薩伐板
適用于天文觀測及工業(yè)檢測

薩伐板（Savart plate）是一種極為實用的光學(xué)器件，通常由方解石或石英制成，主要用于檢測極微弱偏振光（如星光）。其結(jié)構(gòu)由兩片厚度相同的雙折射材料晶體膠合而成——兩片晶體的光軸均與表面法線呈45°夾角，且彼此呈90°正交排列。

當(dāng)光線射入第一片晶體時，會分解為尋常光（o光）和非常光（e光）兩種偏振態(tài)。尋常光保持原方向傳播，而非常光會平行于晶體邊緣發(fā)生偏移。進入第二片晶體時，第一片中的尋常光會轉(zhuǎn)換為第二片中的非常光，并沿垂直于第一次偏移的方向產(chǎn)生位移。每個偏振分量實際上都通過各自的剪切干涉儀，形成一組直線干涉條紋。若在薩伐板后加入檢偏器，即可通過測量條紋相對強度來推算偏振度。

方解石薩伐板產(chǎn)生的光束位移量約為總厚度的0.075倍，石英材質(zhì)則為0.0042倍。訂購時需明確材料類型、通光孔徑、總厚度要求，以及是否需要增透膜（AR鍍膜）和安裝支架。例如：帶支架的10mm孔徑、15mm厚方解石薩伐板編號為CSP10-15-M；若在表面鍍有中心波長550nm的氟化鎂單層增透膜，則編號為CSP10-15-AR550-M。

以上僅為標準型號示例——如您所愿，Leysop公司始終能夠根據(jù)實際需求提供其他通光孔徑、位移量的薩伐板組件，并可選擇是否增鍍增透膜（AR涂層）。所有光學(xué)件可選擇裝配保護環(huán)或裸件形式交付。請隨時告知您的具體需求，只要技術(shù)條件允許，我們將竭誠滿足您的要求。