除了表面分析組件外，LK Technologies還專門設計和構建完整的特高壓系統，這些系統通常結合了LK組件和其他制造商的多種表面分析方法。

這些系統的常見元件是精密UHV室，主泵（通常是離子泵），輔助泵（通常是渦輪分子），精密樣品操縱器，安裝框架和真空計量。

多探針分析系統由XPS分析組成，包括X射線單色儀、半球分析儀、AES、ISS、多通道HREELS和帶快速樣品加載系統的全樣品制備室。