UHV表面科研系統:多探針分析系統

除了表面分析組件外,LK Technologies還專門設計和構建完整的特高壓系統,這些系統通常結合了LK組件和其他制造商的多種表面分析方法。

這些系統的常見元件是精密UHV室,主泵(通常是離子泵),輔助泵(通常是渦輪分子),精密樣品操縱器,安裝框架和真空計量??蛻敉ǔR蟮目蛇x組件是快速樣品引入系統(加載鎖定)和烘烤控制。

請聯系LK獲取更多信息,并討論您的自定義系統要求。多探針分析系統是全球實驗室提供的一個例子:

多探針分析系統,包括XPS分析,X射線單色儀,半球形分析儀,AES,ISS,多通道HREELS和帶有快速樣品加載系統的完整樣品制備室。


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