程序升溫脫附（TPD）是一種強大的材料分析工具，通過加熱樣品并監測其釋放至氣相的雜質，實現對材料表面和近表面區域的敏感分析。
我們的 TDS1000 系統 是一款高度集成的分析設備，能夠以高靈敏度和定量校準功能獲取高質量的 TPD 光譜。
主要特點包括：
靈活的系統設計，便于經濟高效地擴展其他表面分析工具
特別屏蔽的質譜探頭，實現高靈敏度檢測
樣品加載后可快速抽真空至 10?? Torr 級別
水冷樣品臺，有效降低背景氣體干擾，并實現樣品的快速冷卻
可轉移式樣品托盤，配備內置加熱元件與兩個熱電偶讀取接口，實現準確的樣品溫度測量
TDS1000 系統，推進程序升溫脫附研究的科學發展
TDS1000 是一款高度集成的表面科學分析系統，能夠幫助研究人員定量分析樣品在加熱過程中釋放出的化學物種。
典型操作溫度范圍為室溫至 900°C，質譜分析范圍為 1–200 AMU。
系統核心部件是熱脫附光譜（TDS）探頭，可實時檢測樣品釋放出的質量信號。該探頭配備特殊屏蔽的質譜儀及控制軟件，能夠獲取高靈敏度的質量信號與樣品溫度之間的數據。
系統組成與技術參數：
屏蔽質譜探頭
標準質量范圍：1–200 AMU
熱脫附腔體
配備離子規
真空系統
250 L/S 渦輪分子泵
干式前級泵
鈦升華泵
配備常溫屏蔽層
XYZR 精密樣品操控器
可轉移式樣品托與加熱器
支持樣品尺寸：最大 1.00 x 1.00 英寸
溫度測量
兩個可轉移式熱電偶，實現高精度樣品溫度讀取
加載鎖與樣品轉移系統
配備 70 L/S 渦輪分子泵
氣體歧管系統
支持最多 3 種氣體
包括機械泵、真空計和精密漏閥
校準系統
最多支持 3 種氣體的受控泄漏用于校準
系統集成
包括系統烘烤組件、不銹鋼支架
電子設備機架及安全聯鎖系統
溫度控制與數據采集系統
集成質譜-溫度-時間關聯輸出功能
