除了提供表面分析部件，LK Technologies 還專注于完整超高真空系統的設計與構建，這些系統通常集成了多個表面分析方法，既包括 LK 自有組件，也可集成其他廠商的設備。
這類系統的常見組成部分包括：精密的 UHV 腔體、主泵（通常為離子泵）、輔助泵（通常為渦輪分子泵）、高精度樣品操控器、支撐框架以及真空測量裝置。客戶通常還會選配快速樣品引入系統（加載鎖）和烘烤控制系統。
歡迎聯系 LK 獲取更多信息，并討論您的定制系統需求。以下是我們為全球實驗室提供的部分系統示例：
多探針分析系統，包括 XPS 分析儀（配備 X 射線單色器）、半球分析儀、AES、ISS、多通道 HREELS 及完整的樣品制備腔體，配有快速樣品加載系統。
緊湊型 LEED/AES 系統
配置包括 RVL 2000 型 LEED 儀、MINICMA™ 分析儀、NGI3000 離子槍和樣品引入系統。
EA5000MCA 型是我們新推出的一款多功能高分辨率分析儀，能在保持高能量分辨率的同時實現極快速數據采集。圖中為其集成于一套完整的多通道 HREELS 系統中，并配有樣品表征與加載系統。
該材料分析系統采用靈活的設計平臺，便于集成 LEED、AES 和離子濺射等其他技術。
