美國MCALLISTER 6“ 樣品尺寸探針臺,無損電氣測試

美國MCALLISTER 6“ 樣品尺寸探針臺,無損電氣測試

MCALLISTER 6“ 樣品尺寸探針臺產品描述

MCALLISTER大樣品尺寸 – 6 英寸(150 毫米)

  • 所示 蓋板已拆下
  • 完全訪問整個晶圓表面
  • ±3 英寸(±765 毫米)XY 行程
  • 0.5 英寸(12.5 毫米)Z 軸行程
  • 計算機化運動控制
  • 冷卻至 -40C
  • 48 個儀表饋通
  • 1000X 三目顯微鏡(未顯示)
  • 集成多電路探針卡安裝
  • 單獨的真空兼容掃描探頭
  • 真空度可達?10-6?torr
  • 其他儀表端口
  • 高精度定位器 <0.0001“ (<2μ)

MCALLISTER 6“ 樣品尺寸探針臺

MCALLISTER術語“探針臺”涵蓋了用于將分析探針或測試探針放置在測試樣品上不同位置進行無損電氣測試的各種設備。此處的示例顯示了可用于半導體、材料科學、物理學、光學和 MEMS 的各種不同尺寸和類型。所有產品都是專門為最終用戶的獨特訪問、范圍、溫度和測試要求量身定制的。這些旨在展示 MTS 定制設計和制造車間的可能性范圍,該列表幾乎并不詳盡


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