Metricorr ER 探頭 （ERv2） – 查看用于腐蝕監(jiān)測的高靈敏度 ER 探頭
ER 探頭（ERv2）
腐蝕速率與陰極保護(hù)數(shù)據(jù)采集 | 干擾腐蝕分析的理想工具
⭐ 產(chǎn)品特點(diǎn)（FEATURES）
腐蝕速率監(jiān)測 – 極高分辨率，支持腐蝕診斷
內(nèi)嵌數(shù)字證書 – 無需紙質(zhì)文檔，自動識別
專為干擾腐蝕設(shè)計(jì) – 工程化外形，適應(yīng) AC/DC 干擾監(jiān)測
溫度補(bǔ)償系統(tǒng) – 內(nèi)置散熱器、參考元件與專有補(bǔ)償算法
高強(qiáng)度結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì) – 適用于土壤、高溫或海上環(huán)境
📐 測量參數(shù)（MEASUREMENTS）
✅ 腐蝕速率
✅ 即時(shí)關(guān)斷電位（Instant-off Potential）
✅ IR 補(bǔ)償電位
✅ 直流電流密度（DC Current Density）
✅ 交流電流密度（AC Current Density）
✅ 分布電阻（Spread Resistance）
📝 產(chǎn)品說明（DESCRIPTION）
當(dāng)配合 MetriCorr 的 ICL 單元 使用時(shí)，ER 探頭是測量腐蝕速率及獲取電信號特征（electrical fingerprints）的關(guān)鍵組件。
探頭模擬了一個(gè)涂層缺陷。
通過測量暴露的 Coupon 元件和屏蔽參考元件之間的電阻變化，配合數(shù)學(xué)算法，即可計(jì)算出探頭金屬腐蝕造成的厚度變化。
將腐蝕速率與電參數(shù)同時(shí)記錄，可有效分析 AC/DC 干擾環(huán)境下的腐蝕行為。
由于所有參數(shù)都在同一金屬表面測得，確保了涉及的化學(xué)與電化學(xué)反應(yīng)都被納入分析范圍。
🌍 環(huán)境適應(yīng)性
ER 探頭可用于多種腐蝕環(huán)境下的分析，
通過不同的外殼設(shè)計(jì)與探頭材質(zhì)確保：
在整個(gè)生命周期內(nèi)提供準(zhǔn)確的腐蝕與陰極保護(hù)信息
滿足用戶在現(xiàn)場的長期監(jiān)測需求
🆕 ERv2 最新版本功能
插頭內(nèi)嵌存儲芯片，包含數(shù)字證書
接入 Slimline ICL 或 ICL-C 記錄儀后，設(shè)備將自動讀取證書并準(zhǔn)備測量
🔎 探頭類型（從左至右）
圓形探頭 – 用于土壤環(huán)境，1 cm2
桿式探頭 – 用于土壤環(huán)境，1 cm2
桿式探頭 – 用于土壤環(huán)境，10 cm2
圓形探頭 – 用于高溫環(huán)境，1 cm2
圓形探頭 – 用于海上環(huán)境，31 cm2
