MetriCorr?ER探頭在使用MetriCorr ICL裝置時，需要使用ERv2探頭來確定腐蝕速率和測量電指紋

ER腐蝕速率探頭是一個精密的電子產品,探頭模擬涂層缺陷,通過使用簡單的數學算法測量暴露的試片元件和屏蔽參考元件的電阻，得出探頭厚度。

同時記錄腐蝕速率和電指紋，可以有效分析例如干擾條件。在同一金屬表面上測量所有參數（腐蝕速率、交流/直流電位、交流/直流電流密度和擴散電阻），確保所有相互作用的化學和電化學反應都是分析的一部分。

ER探頭可用于分析突然及各種環境中的腐蝕，各種探頭設計和外殼材料可確保探頭適合用途，并在其整個使用壽命期間繼續向操作員提供有價值的腐蝕和CP信息。

最新版本的MetriCorr ERv2探頭在插頭中嵌入了內存，包含數字證書。連接探頭后，MetriCorr的Slimline ICL或ICL-C將自動讀取該值，且裝置已準備好進行測量。

數據記錄儀的數據可以通過接口導入計算機，也可以使用GSM/GPRS網絡無線傳輸,衛星或光纖/LAN 提供數據通信

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