OLIS 14F紫外/可見/近紅外熒光計和分光光度計

一種多用途雙光束分光光度計,可用于UV,Visible和NIR區域的吸光度熒光測量。使用棱鏡+光柵F / 8單色儀,在整個UV / Vis區域使用光電倍增管,在整個NIR使用PbS檢測器,實現真正的雙光束吸收率采集。支持掃描激發和發射測量。熒光檢測是通過UV / Vis中的靈敏光子計數設備和近紅外中的TE冷卻InGaAs進行的。

應用領域

  • 納米粒子,量子點和半導體的表征
  • 高分辨率UV / Vis / NIR吸收和熒光
  • 掃描激發-發射矩陣
  • 濾光片,涂層和光學元件的表征

技術指標

熒光230 – 1650 nm

吸光度185 – 2600 nm

棱鏡+光柵激發單色儀的雙光束

可更換的鎢絲和氙弧燈

可互換的掃描UV / Vis和NIR發射模塊

<0.0001%雜散光

通用配件選項

擴展范圍檢測器,可發射近2500 nm的NIR

鏡面反射附件

圓二色性模塊

滴定儀精確混合

停流快速動力學反應

積分球的漫反射

 

規格表:

多用途雙光束分光光度計,對于紫外吸收和熒光測量,可見光和近紅外區域。真雙光束吸收率,用棱鏡+光柵F/8單色儀采集,紫外可見區和光子晶體中的光電倍增管整個近紅外探測器。包括探測器轉換PMT和PbS探測器之間的移動設施,在吸光度掃描期間,用戶可選擇波長。用來產生吸光度的單色儀測量光束也起到激發光的作用,需要熒光工作時的光源。這個單色儀包括計算機控制的掃描寬度在0.1nm到20nm之間變化。兩個可更換的排放模塊,每個模塊都有自己的單色儀、光柵和探測器(PMT&InGaAs)支持掃描熒光測量。

應用:

高分辨率UV/Vis/NIR掃描

碳納米顆粒的UV/Vis&NIR熒光

液體、固體和粉末樣品的漫反射和鏡面反射

濾光片、涂層和光學元件的特性

技術規格:

雙光束

棱鏡+光柵單色儀

可更換鎢氙弧燈

185–2600納米吸光度;185–1750納米熒光

可交換掃描發射模塊

埃分辨率

<0.0001%雜散光

產品的好處:

具有高分辨率和低雜散光的優秀光學系統

模塊化配置支持多種應用

UV/Vis&NIR中的靈敏掃描熒光測量

連續可調狹縫允許恒定帶寬掃描

現代多波長采集分析軟件

替代高質量、可靠光學工作臺的綠色替代品


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