Four-Point Probe–四點探針
Ossila四點探針系統是一種易于使用的工具，用于快速測量材料的薄層電阻、電阻率和電導率。
以高規格制造Ossila源測量單元就其核心而言，Ossila四點探針是一種低成本系統，允許寬測量范圍。探頭使用彈簧接觸代替尖針，防止損壞精密樣品，如厚度在納米量級的聚合物薄膜。價格包括一個四點探針、內置源測量單元、易于使用的PC軟件和ITO涂層玻璃基板。
Ossila四探針系統通過三個特征降低了損壞精密薄膜的可能性。用于接觸的探針具有圓形尖端(不像其他探針那樣像尖針)。這些圓形尖端的半徑為0.24毫米，使探針比針具有更大的接觸表面積，因此分散了施加在樣品上的向下的力。這些探針是鍍金的，并安裝在彈簧上，以促進電接觸而無需過度的力，因為這使它們能夠在與樣品接觸時縮回到探針頭中，以確保施加60克的均勻力。探頭的示意圖如下圖所示。
四點探針測量規格
| 電壓范圍 | 100 μV至10 V |
| 電流范圍 | 1 μA至200 mA (5個范圍) |
| 薄層電阻范圍 | 100mω/□至10mω/□(每平方歐姆) |
| 薄層電阻 | 準確性* | 精度** | 在范圍內測量 |
| 100mω/□ | 8% | 3% | 200毫安 |
| 1 Ω/□ | 2% | 0.5% | 200毫安 |
| 10 Ω/□ | 1% | 0.5% | 200毫安 |
| 100 Ω/□ | 1% | 0.05% | 20毫安 |
| 1kω/□ | 1% | 0.03% | 20毫安 |
| 10kω/□ | 1% | 0.02% | 2000年 |
| 100千歐/□ | 2% | 0.05% | 200安 |
| 1mω/□ | 8% | 0.5% | 20安 |
| 10mω/□ | 30% | 5% | 20安 |
*精確度是與真實值的最大偏差。
**精度是相同測量值之間的最大偏差(用于比較測量)。
物理設備規格
| 探針間距 | 1.27毫米 |
| 矩形樣本大小范圍 | 長邊最小:5毫米短邊最大:60毫米 |
| 圓形樣品尺寸范圍(直徑) | 5毫米至76.2毫米 |
| 最大樣品厚度 | 10毫米 |
| 總尺寸 | 寬:145毫米高:150毫米深:240毫米 |
