Photonetc高光譜顯微鏡IMA™
IMA™高光譜顯微鏡平臺可提供同樣高的光譜和空間分辨率。使此模塊化系統配置為快速掃描VIS,NIR和/或SWIR光譜,同時繪制光致發光,電致發光,熒光,反射率和/或透射率的組合。每個IMA™都配有高通量全局成像濾鏡;這使它能夠比依賴掃描光譜的高光譜系統更快地測量百萬像素超立方體。
IMA™
- 執行復雜的材料分析,例如太陽能電池表征和半導體質量控制(例如:鈣鈦礦,GaAs,SiC,CIS,CIGS等)。
- 在復雜的環境(包括活細胞和組織)中研究IR標記。以在第二生物窗口中發射的IR熒光團的光譜異質性為例。
- 檢索暗場圖像并獲得透明和未染色樣品(例如聚合物,晶體或活細胞)的對比度。
特點
- 快速全局映射(非掃描)
- 高空間和光譜分辨率
- 完整的系統(源,顯微鏡,照相機,濾鏡,軟件)
- 無損分析
- 可定制
- 可見光范圍從400到1200 nm,SWIR范圍從900 nm到1700 nm
規格表:
光譜范圍 | VIS-SWIR型號 400-1620 nm | |
---|---|---|
可見光 400-1000 nm | 短波 900-1620 nm | |
光譜分辨率 | <2納米 | <4納米 |
相機 | CCD,EMCCD,sCMOS | ZephIR 1.7 |
激發波長 (最多3個激光) | 405、447、532、561、660、730、785或808 nm | |
顯微鏡 | 直立或倒立;科學級 | |
空間分辨率 | 亞微米 (受顯微鏡物鏡NA限制) | |
最大樣本大小 | 10厘米x 10厘米 | |
X,Y旅行范圍 | 76毫米x 52毫米 | |
Z級分辨率 | 100納米 | |
照明 照明選項 | 透射,伸縮,LED,HG,落射 熒光模塊,暗場模塊 | |
波長絕對精度 | 0.25海里 | |
視頻模式 | 百萬像素相機用于樣品可視化 | |
數據處理 | 空間過濾,統計工具,頻譜提取,數據歸一化,頻譜校準,疊加,中心位置圖等。 | |
超光譜數據格式 | HDF5,FITS | |
單圖像數據格式 | HDF5,CSV,JPG,PNG,TIFF | |
軟件 | PHySpec™控制和分析(包括計算機) | |
尺寸圖 | ?150厘米x 85厘米82厘米 | |
重量 | ?80公斤 |