超光譜寬場

使用400-1000 nm（V-EOS?）或1000-2300 nm（S-EOS?）內任何波長的全分辨率圖像，您可以完全表征目標，Photon等的廣域高光譜成像儀將發生變化您對光譜分析的看法。優化的高光譜立方體的采集可以對全分辨率圖像的每個像素進行光譜分析，這意味著不再需要對樣品進行快速的XY掃描或限制遙感采集的曝光時間。V-EOS?和S-EOS?不僅帶來效率的提高，還提供有關光譜和空間內容的數據，使您能夠通過擴展最苛刻應用程序的前沿來執行新穎的分析。