電子源 ES 40C1 用于 掃描應用 AES 成像 EELS 和電子脈沖或解吸實驗 (ESD)

具有小光斑輪廓的可掃描電子源。由于其Einzel透鏡的高透射率,ES 40C在很寬的能量范圍內提供高電子束電流。ES 40C1 專為在 AES掃描應用成像EELS電子脈沖解吸實驗ESD) 等應用中穩定可靠地運行而設計。

技術規格:

安裝法蘭DN 40CF(可旋轉)
能量范圍0 – 5 keV
采樣電流高達 100 μA
掃描區域10 毫米 x 10 毫米
屏蔽銅或μ金屬
陰極類型釷鎢
插入長度最小 155.7 毫米,(其他應要求提供)外徑:33.5 毫米(μ金屬),35 毫米(銅)
FWHM取決于工作距離,最小 120 μm(距離 56 mm)
工作距離23 毫米 – 150 毫米(典型值為 75 毫米)
烘烤溫度最高 250 °C
工作壓力< 5×10-6毫巴

特征:

  • 細聚焦微成型尖端陰極
  • 具有小光斑輪廓的可掃描電子源
  • 入射電子束角校正(由ES40-PS電源提供)
  • 集成掃描和偏轉單元

選項:

  • 線性移位
  • 定制插入長度
  • 源屏蔽材料(μ金屬或銅)

電子源電源 ES40-PS

允許微調電子束能量、密度、樣品上的位置以及電子束輪廓。掃描功能允許獨立控制掃描速度和范圍。所有設置都可以手動調整,也可以在設備打開后自動存儲和調用。該裝置還具有內置定時器和自動待機模式。ES40-PS可以作為全寬19“機架安裝單元(3U高)或獨立式提供。通過 USB 端口輕松更新固件。設備可通過RS232/485或以太網接口進行遠程控制。自動保存功能,用于保存參數/單位預設并在重新啟動后自動應用它們。

技術規格:

電源電壓100 – 120 伏交流電/200 – 240 伏交流電,50-60 赫茲(最大功耗 250 W)
光束能量0 – 5000 eV,分辨率 0.1 eV,紋波 < 200 mV
發射電流0.1 – 300 μA,分辨率 0.01 μA [ES 模式] 1 – 3000 nA,分辨率 1 nA [CMA 模式]
聚焦電壓60 – 100 % 與能量電壓相關,分辨率 0.1 %
韋內爾特電壓0 – 150 V,分辨率 0.1 V [ES 模式] -12 – 12 V,分辨率 0.1 V [CMA 模式]
光束位置(像素,像素)分辨率 0.01 毫米,中間位置 ±5 毫米
掃描區域(Δx、Δy)10 毫米× 10 毫米,分辨率 0.01 毫米
掃描速度(時間/點)20 μs – 30 ms
定時器雙模定時器 0s – 99h 59m
真空測量(可選)CTR90, TTR91, TTR211, PTR225, PTR90, ITR90, ITR100, Baratron, 模擬輸入, MKS937A, PG105, MG13/14, PKR251/360/361, PCR280, ATMION
通信接口RS232/485,以太網
通信協議MODBUS-TCP
用戶界面7“ TFT 顯示屏,帶觸摸屏,數字編碼器
界面語言英語, 德語, 波蘭語
尺寸483 x 133 x 435 mm(寬 x 高 x 深),19“ 機架安裝式
重量(大約)9.2 千克

應用:

ES40-PS電源旨在與ES40C1低能電子源或雙通迷你圓柱鏡分析儀CMA 40CF配合使用。電源允許微調電子束輪廓,以在高能量和發射電流下實現小光斑。

選項:

– 軟件控制(專業版、擴展版或庫模塊),
– 用于真空測量的模擬 I/O 卡(1 個儀表)。


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