EA15-HP50 可在高達 50 mbar 的靜態和動態環境中進行高分辨率 PES 測量。
該分析儀總共配備了 11 個狹縫，可以在最佳能量分辨率和最佳強度之間進行選擇。根據給定的光電子能量，分析儀設置了多達9個預定義的PE，以滿足客戶的要求。
套件包括：
技術規格：
| 安裝法蘭 | DN 200 CF |
| 烘烤溫度 | 最高 120 °C |
| 工作距離 | 0.3-2 毫米（取決于錐體開口） |
| 分析儀平均半徑 | 150 毫米 |
| 傳遞能量 | 5， 10， 20， 50， 100， 200， 250， 300， 500 eV |
| 能量分辨率 XPS | < 20 meV FWHM |
| 動能范圍 | 0.5 – 1500 eV |
| 采集模式 | 固定，掃描 |
| 透射和角度鏡頭模式： ▫鏡頭接受角度 （透射模式） | +/- 9° |
| 固定模式下的最大能量窗口 | 12.5 % 的通量（用于 MCP-CCD） |
| 完全由非磁性材料設計 | |
探測器：
- MCP-CCD 探測器
– 40 mm 直徑雙 MCP 探測器
– 656 個能量通道同時可用
– 494 個角度通道同時可用
– 90 fps - 7-MCD 探測器
其它信息：
EA15半球形能量分析儀可由LabVIEW編程環境直接控制。
注意：
建議將μ金屬分析真空室或內部μ金屬屏蔽室與PREVAC EA15-HP50半球形能量分析儀結合使用，以最大程度地減少外部磁場的影響并最大限度地提高分析儀的性能。
