德國Protemics太赫茲近場探針系列是新一代的高性能光電導型微探針，利用此太赫茲近場探針，樣品表直的近場太赫茲電場可被以被空前的分辨率測量，信號質量好，噪聲低。這些太赫茲探針可以無縫的與激發波長低于860nm的THZTDS系統配合使用。德國Protemics THZ近場探針提供了一個低成本的解決方案，可將您的THZ-TDS升級為高分辨率的太赫茲近場掃描成像系統。
TeraSpike TD-800-X太赫茲近場探針對THz場分量敏感，THz場成分沿橫向方向取向于探針尖端軸，如上圖中的X軸方向所定義。HR選項不包括諧振天線元件，并提供稍高的帶寬。HRS選項包括一個天線元件，用于提高1 THz左右的靈敏度。
每個探頭都經過單獨測試，并附有手冊和測試證書。
TeraSpike TD-800-X太赫茲近場探針技術參數：
| Type | HR | HRS |
| ?最大空間分辨率 | 3 μm | 20 μm |
| ?Photo-switch gap size | 1.5 μm | 2 μm |
| ?暗電流 @ 1 V Bias | < 0.5 nA | < 0.5 nA |
| 光電流 @ 1 V Bias | >0.2 μA | > 0.2 μA |
| ?激發波長 | 700 .. 860 nm | 700 .. 860 nm |
| ?平均激發功率 | 0.1 .. 4 mW | 0.1 .. 4 mW |
| ?接口 | SMP | SMP |
TeraSpike TD-1550-X
新型TeraSpike TD-1550-X系列微探針是我們的第一個可以直接通過電信波長（1500..1600nm）激光脈沖采樣的探針。它們對橫向于探頭尖端軸的電場矢量分量很敏感，如上圖中的x軸方向所定義。由于我們正在申請專利的內部吸收器（“波阱”）結構，TD-1550-X-HR-WT型號提供了良好的空間分辨率和清晰的光譜響應。TD-1550-X-HR-WT-XR型號提供了更高的機械性，空間分辨率和靈敏度僅略有損失。它專為更粗糙的應用而設計，例如樣品距離更難控制的應用。
Technical specifications:
| Type | -HR-WT | -HR-WT-XR |
| 最大空間分辨率 | 40 μm (20 μm(#)) | 80 μm |
| ?Photo-switch gap size | ?1.5 μm | 1.5 μm |
| 暗電流@ 1 V Bias | < 4.5 μA | < 4.5 μA |
| ?光電流@ 1 V Bias | > 12 μA?(*) | > 12 μA?(*) |
| 激發波長 | 1500 .. 1600 nm | |
| ?平均激發功率 | 1.5 .. 3.5 mW | |
| ?接口 | SMP | |
（*）對于約20μm的焦點直徑，偏壓為1V，平均光激發功率為3mW。
（#）前開關代替主開關勵磁。前開關激勵模式顯示信噪比降低。
TeraSpike TD-800-Z微探針
TeraSpike TD-800-Z微探針微探針對THz場分量敏感，THz場成分沿探頭尖端軸的縱向方向取向，如上圖中的Z軸方向所定義。N選項不包括諧振天線元件，并提供稍高的帶寬。A-500G選項包括一個天線元件，可提高0.5THz左右的靈敏度。
TeraSpike TD-800-Z微探針技術參數：
| Type | N | A-500G |
| 最大空間分辨率 | 8μm | 8μm |
| ?Photo-switch gap size | 2μm | 5μm |
| ?暗電流 @ 1 V Bias | < 0.4 nA | < 0.4 nA |
| ?光電流 @ 1 V Bias | >0.1 μA | > 0.2 μA |
| 激發波長 | 700 .. 860 nm | 700 .. 860 nm |
| 平均激發功率 | 0.1 .. 4 mW | 0.1 .. 4 mW |
| 接口 | SMP | SMP |
TeraSpike Starter-kit 微探針工具包
通過TeraSpike Starter-kit 微探針工具包，可以根據應用程序的需要自由選擇安裝的TeraSpike微探針的方向。建議在所有機械設置和施工過程中使用入門套件中包含的虛擬設備TeraSpike Phantom，因為在這些過程中可以很容易地避免不受控制的機械沖擊風險。每個微探針都裝在一個堅固的運輸和存儲箱中。
每個探頭都經過單獨測試，并附有手冊和測試證書。
這個工具包是理想的解決方案。它包括以下組件：
X或Z系列的TeraSpeek微探針
TeraSpike phantom (dummy device)
TS電纜連接（SMP到SMA）
SMA到BNC適配器
安裝和柱
TeraSpike XR-option選項
TeraSpike探針的標準設計經過優化，可實現最高的空間分辨率、最低的場侵入性和最高的靈敏度。這是通過包含有源場傳感器元件的獨立的基于半導體的懸臂微結構來實現的。這種標準設計的機械堅固性符合在控制良好和自動化系統中長期應用的要求，如TeraCube Scientific，它還允許進行定點樣品接觸。
對于在更粗糙的環境中或樣本距離更難控制的地方的應用，新的XR設計是一個很好的選擇，它大大提高了機械魯棒性，同時只降低了空間分辨率和靈敏度。
橫截面設計比較——標準與XR選項：
時域和頻域響應-標準與XR選項：
XR選項目前可用于以下x和z場敏感的TeraSpike探頭：
TeraSpeek TD-800-X-HR-WT-XR
TeraSpeek TD-800-Z-WT-XR
如果您對其他TeraSpeak型號的XR選項感興趣，請聯系我們。
TeraSpike WT-option
TeraSpike近場探針在不同的激發條件下使用。一些配置可能會產生能夠沿著探針尖端的內部電極傳播的THz模式。到目前為止，這些模式是根據記錄的時域瞬態中的反射信號觀察到的。
Protemics開發了一種名為“波阱”的新專利申請設計，該設計有效地減緩和吸收了這種探頭內部THz信號傳輸。
Tip designs
WT選項目前可用于以下x和z場敏感的TeraSpike探頭：
TeraSpeek TD-800-X-HR-WT
TeraSpeek TD-800-Z-WT
TeraSpeek TD-800-X-HR-WT-XR
TeraSpeek TD-800-Z-WT-XR
