美國Quantum Northwest Luma 40溫控比色皿架 基于珀爾帖效應

美國Quantum Northwest Luma 40溫控比色皿架

用戶可定制的基于珀爾帖效應溫控比色皿架,配有四個光學端口

產品概述

Luma 40 是一款簡單的溫控比色皿架,配備四個光學端口,適用于從吸光度到熒光,甚至是激光的各種光譜學應用。光學端口的排列方式支持在激發光束的兩側以 90 度角測量熒光。Luma 40 的光學端口還可以在需要 90 度額外訪問權限的光化學研究中使用。

標準款 Luma 40 安裝在一個帶有公制孔位的基板上,可安裝在光學面包板上。我們提供與各種制造商的分光光度計兼容的安裝選項,或者您可以聯系我們,為您的實驗需求定制安裝解決方案!請查看以下可用選項!

Luma 40 適用于 -15 °C 至 100 °C 的溫度范圍。通過循環冷卻劑(通常是水)從珀爾帖熱交換器中移除熱量。Luma 40 能夠精確地保持樣品溫度,并以穩定、可重復的速度進行攪拌,同時在低溫下通過受控的氣體環境保持光學清晰度。使用 Luma 40 可在精確保持的溫度下測量光譜,或進行溫度升降實驗,以觀察溫度變化對吸光度或熒光的影響。

通過添加窗口護套和使用干燥氣體吹掃,可以輕松將溫度降至 -40 °C(需使用預冷卻的冷卻液)。購買擴展溫度選項可將最大溫度范圍擴展至 +150 °C。若同時選擇這兩個選項,您的設備將具備近 200°C 的寬廣溫度調節范圍,成為終極的多功能實驗設備!

操作 Luma 40 非常簡單。設備包含 TC 1 溫度控制器,可通過 TC 1 前面板上的菜單按鈕手動控制樣品溫度、攪拌速度和升降溫速率,或者通過 Quantum Northwest 提供的 T-App 電腦控制軟件(需單獨購買)進行控制。

產品特點

✔️ 四個光學端口
✔️ 快速、精確的溫度控制
✔️ 可選擴展溫度范圍
✔️ 可選窗口護套,適用于極端溫度
✔️ 可調速磁力攪拌
✔️ 干燥氣體吹掃,適用于低溫工作
✔️ 基座和支柱,支持安裝在光學面包板上
✔️ 支持樣品溫度探頭輸入
✔️ NIST 可溯源的溫度校準

技術參數

參數規格
控制的比色皿數量1
典型用途熒光
標準比色皿尺寸(外部)12.5 mm x 12.5 mm
每個比色皿的光學端口數量4
光學端口尺寸12 mm 高 x 10 mm 寬
內置光學狹縫架數量每個比色皿 4 個
比色皿 Z 軸高度8.5 mm 或 15 mm(大多數型號)
是否提供帶窗口的護套是(可選 2、3 或 4 個窗口)
正常工廠設定的溫度范圍-40 °C 至 +105 °C
易于實現的溫度范圍-15 °C 至 +105 °C
特殊技術下的溫度范圍-40 °C 至 +105 °C
擴展工廠設定的溫度范圍-55 °C 至 +150 °C
擴展溫度范圍(可實現)-50 °C 至 +150 °C
更廣泛溫度范圍內的精度-20 °C 至 +110 °C 范圍內優于 ±0.3 °C
溫度重復性優于 ±0.07 °C
支持的熱敏電阻探頭Series 400 或 Series 500
磁力攪拌電機類型步進電機
磁力攪拌速度范圍1-2500 rpm
默認攪拌速度1200 rpm
最佳攪拌速度范圍60-1800 rpm


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