qX3
風冷式帕爾貼溫控比色皿支架，三光學接口，支持用戶自定義配置
產品概述
qX3是一款采用風冷技術的溫控比色皿支架，配備三光學接口，專為熒光光譜檢測及多光路實驗設計。
標準型號配置鋁合金基板，支持無限自定義安裝方案。同時我們提供多種品牌分光光度計的適配支架，如需定制專屬實驗解決方案，歡迎隨時聯系我們！
作為風冷系列旗艦產品，qX3在0°C至110°C溫區無需外接液冷系統，徹底擺脫傳統水桶/冷水機等液冷設備的束縛。
本產品支持穩定可重復的樣品攪拌功能，低溫工作時可通過可控氣體環境保持光學窗口清晰。無論是恒溫條件下的熒光光譜觀測，還是變溫過程中的熒光強度變化研究，qX3都能提供專業解決方案。
選配低溫組件（含可開窗保溫套及液冷接口）可將工作溫區擴展至-35°C；選配高溫組件更可支持150°C極端實驗環境。雙組件同時選配即可打造全能型熒光研究平臺！
標配TC-1溫度控制器支持前面板按鍵手動調節溫度、攪拌速度及升溫速率，也可選購T-App電腦控制軟件實現高級操控。
產品特點
? 三光路接口設計
? 帕爾貼快速精準溫控
? 步進電機驅動精密磁力攪拌
? 保溫蓋提升溫度穩定性
? 螺紋接口支持濾光片/窗口片安裝
? 光學狹縫支架控制照明區域
? 可選擴展溫區組件
? 極端溫度可開窗保護套
? 低溫工況干燥氣體吹掃
? 樣品溫度探頭接口
? NIST可溯源溫度校準
技術規格
| 參數 | 說明 |
|---|---|
| 可控比色皿數 | 1個 |
| 典型用途 | 熒光光譜檢測 |
| 標準比色皿尺寸(外徑) | 12.5×12.5mm |
| 單皿光學接口數 | 3個 |
| 光學接口尺寸 | 高12mm×寬10mm |
| 比色皿Z軸高度 | 15mm |
| 可開窗保溫套 | 可選 |
| 出廠設定溫度范圍 | -40°C至+110°C |
| 常規易達溫度范圍 | -5°C至+110°C |
| 低溫組件擴展范圍 | -35°C至+110°C |
| 高溫組件擴展范圍 | -35°C至+150°C |
| 溫度精度 | ±0.02°C |
| 兼容熱敏電阻探頭 | QNW3型探頭 |
| 攪拌電機類型 | 步進電機 |
| 攪拌轉速范圍 | 1-2500rpm |
| 默認攪拌速度 | 1200rpm |
| 最佳工作轉速 | 60-1800rpm |
基礎套裝包含
? qX3溫控比色皿支架
? TC-1溫度控制器
? NIST可溯源校準與性能數據報告
? 配件包（含攪拌子/氣體管路/線纜）
定制適配型號
主流熒光光譜儀
qX3/Eclipse (Agilent)
qX3/FLS1000 (Edinburgh)
qX3/Duetta (Horiba)
qX3/RF6000 (Shimadzu)
（完整列表覆蓋20+個品牌型號，包括PTI/PicoQuant/ISS等專業熒光設備）
特殊應用型號
qX3/AB2 (Aminco-Bowman二代光譜儀專用)
可選配件
? T-App控制軟件
? 10K熱敏電阻探頭
? qX2/qX3系列通用配件
