美國Quantum Northwest、Luma 40用戶可定制的基于 Peltier 的溫控比色皿支架,帶有四個光學端口、適用于從吸光度到熒光甚至激光的廣泛光譜應用、光學端口的布置允許在激發光束兩側的激發點測量 90 度的熒光

美國Quantum NorthwestLuma 40用戶可定制的基于 Peltier溫控比色皿支架,帶有四個光學端口、適用于從吸光度熒光甚至激光廣泛光譜應用光學端口的布置允許在激發光束兩側的激發點測量 90 度的熒光

亮度 40

用戶可定制的基于 Peltier 的溫控比色皿支架,帶有四個光學端口

產品概述Luma 40 是一款簡單的溫控比色皿支架,具有四個光學端口,適用于從吸光度到熒光甚至激光的廣泛光譜應用。光學端口的布置允許在激發光束兩側的激發點測量 90 度的熒光。當光化學研究需要額外的 90 度訪問時,也可以使用 Luma 40 上的光學端口。

標準 Luma 40 安裝在帶有公制孔圖案的底座上,用于安裝在光學面包板上。我們的安裝選項與來自不同制造商的各種分光光度計兼容,或者立即聯系我們獲取定制安裝解決方案,以滿足您的實驗需求!查看下面的可用選項!

Luma 40 非常適合在 -15 °C 至 100 °C 的溫度范圍內工作。 循環冷卻劑(通常是水)用于去除帕爾貼換熱器中的熱量。Luma 40 將保持精確的樣品溫度并以穩定的可重現速率攪拌,能夠在受控的氣體環境中充滿光學元件,同時在較低溫度下工作以保持光學清晰度。使用 Luma 40 在精確保持的溫度下測量光譜,或用于溫度升溫,以觀察溫度的變化。

添加帶窗夾套并用干燥氣體吹掃,以使用預冷冷卻劑舒適地將溫度降至至少 -40 °C。購買擴展溫度選件,可將最高溫度擴展到 +150 °C。 購買兩者,將您的設備變成終極的、無所不能的機器,溫度變化近 200°C!

使用 TC 1 溫度控制器(包含在購買價格中)可以輕松作 Luma 40。樣品溫度、攪拌速度升溫速率可以使用前面板上的 TC 1 菜單控制按鈕手動控制,也可以使用 Quantum Northwest 的計算機控制軟件?T-App(可購買)進行控制。

產品特點四個光學端口
快速、精確的溫度控制
可選的擴展溫度范圍
可用于極端
溫度的帶窗護套 變速磁力攪拌
用于低溫工作的干氣吹掃 用于安裝在光學面包板上

底座和柱 用于樣品溫度
的探頭輸入 NIST 可追溯溫度校準

  • 技術規格
    受控的比色皿數量
    1
    典型用途
    熒光
    標準比色皿尺寸(外部)
    12.5 毫米 x 12.5 毫米
    每個比色皿的光學端口
    4
    光端口尺寸
    12 mm 高 x 10 mm 寬
    內置光學狹縫支架
    每個比色皿 4 個
    比色皿 z 高度
    大多數型號為 8.5 或 15 毫米
    提供帶窗夾克
    2、3 或 4 個窗口
    正常工廠設定溫度范圍
    -40 °C 至 +105 °C
    溫度范圍易于實現
    -15 °C 至 +105 °C
    采用特殊技術的范圍
    -40 °C 至 +105 °C
    擴展的出廠設定溫度范圍
    -55 °C 至 +150 °C
    可實現擴展的溫度范圍
    -50 °C 至 +150 °C
    精度 范圍更大
    優于 ±0.3 ?C,從 -20 ?C 到 +110 ?C
    溫度重現性
    優于 ±0.07 °C
    接受熱敏電阻探頭
    400 系列或 500 系列
    磁力攪拌電機型
    步 進
    磁力攪拌速度范圍
    1-2500 轉/分
    默認攪拌速度
    1200 轉/分
    攪拌速度最佳性能
    60-1800 轉/分

     

Luma 40 – 溫控比色皿支架(標準?z 高度?= 8.5 mm 或 15 mm)
TC-1S溫度控制器
底板,用于安裝在光學面包板上
BATH 10?– 循環器系統
NIST 可追溯校準和性能數據
附件 – 磁力攪拌棒、管道、電纜光學狹縫和蓋子

 

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