RF65X系列一維光學(xué)測微計(jì)
一維光學(xué)測微計(jì)?采用“陰影”測量原理，通過將準(zhǔn)直激光傳輸?shù)浇邮掌鱽砉ぷ鳌９馐窂街形矬w投射的陰影邊緣由接收器單元內(nèi)的探測器陣列精確測量。光學(xué)測微計(jì)是非接觸式設(shè)備，非常適合測量電線、棒材和其他圓柱體的直徑，以及間隙、邊緣位置和幾何物體的尺寸特征。
該系列包括以下兩種型號(hào)：
RF651 系列
- 直射式光束測微計(jì)
- 發(fā)射器與接收器之間距離較長
技術(shù)參數(shù)：
- 測量范圍（毫米）：25、50、75、100
- 精度（微米）：±5…20
- 最大掃描頻率（赫茲）：2000
RF656 系列
- 配備遠(yuǎn)心透鏡的高精度測微計(jì)
技術(shù)參數(shù)：
- 測量范圍（毫米）：5、10、25、50、75、100
- 精度（微米）：±0.3…5
- 最大掃描頻率（赫茲）：2000、10000
RF656XY 系列
- 高精度雙軸測微計(jì)
技術(shù)參數(shù)：
- 測量范圍（毫米）：5、10、25、50、75、100
- 精度（微米）：±0.3…5
- 最大掃描頻率（赫茲）：2000、10000
