RF65X系列一維光學測微計

一維光學測微計?采用“陰影”測量原理，通過將準直激光傳輸到接收器來工作。光束路徑中物體投射的陰影邊緣由接收器單元內的探測器陣列精確測量。光學測微計是非接觸式設備，非常適合測量電線、棒材和其他圓柱體的直徑，以及間隙、邊緣位置和幾何物體的尺寸特征。

該系列包括以下兩種型號：

• RF651：直射式光束測微計；
• RF656：配備遠心透鏡的高精度光束測微計；
• RF656XY：高精度雙軸測微計。

RF651 系列

• 直射式光束測微計
• 發射器與接收器之間距離較長

技術參數：

• 測量范圍（毫米）：25、50、75、100
• 精度（微米）：±5…20
• 最大掃描頻率（赫茲）：2000

 

RF656 系列

• 配備遠心透鏡的高精度測微計

技術參數：

• 測量范圍（毫米）：5、10、25、50、75、100
• 精度（微米）：±0.3…5
• 最大掃描頻率（赫茲）：2000、10000

 

RF656XY 系列

• 高精度雙軸測微計

技術參數：

• 測量范圍（毫米）：5、10、25、50、75、100
• 精度（微米）：±0.3…5
• 最大掃描頻率（赫茲）：2000、10000