波蘭RIFTEK RF65x系列二維光學測微計 非接觸式在線測量 2D光學千分尺

RF65x系列二維光學測微計

二維光學測微計?專為非接觸式在線二維批量測量而設計,適用于線性尺寸、直徑、角度、螺紋參數、零件形狀、跳動等的測量。
光學測微計采用“陰影”測量原理,通過將準直激光傳輸到接收器來工作。光束路徑中物體投射的陰影邊緣由接收器單元內的探測器陣列精確測量。

該系列包括以下三種型號:

  • RF657.2D:高精度、高速測微計,具有擴展測量范圍;
  • RF657R.2D:高精度、高速測微計,具有擴展測量范圍和圓形視場(FOV);
  • RF656.2D:經濟型系列。

 


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