RIFTEK,RF651,RF656,RF656XY,一維非接觸式光學顯微測量儀,用于測量金屬絲、棒材和其他圓柱體的直徑,間隙、邊緣位置和幾何物體的尺寸
一維光學顯微測量儀采用“陰影”測量原理,其中平行的激光光束被傳輸到接收器。物體在光束路徑中投射的陰影邊緣通過接收單元內的探測器陣列精確測量。光學顯微測量儀是非接觸式設備,理想用于測量金屬絲、棒材和其他圓柱體的直徑,以及間隙、邊緣位置和幾何物體的尺寸特征。
該系列包括兩種型號:
RF651 — 直接穿透光束顯微測量儀;
RF656 — 帶遠心透鏡的高精度穿透光束顯微測量儀;
RF656XY — 高精度雙軸顯微測量儀。
RF651 系列:
- 直接通過光束測微計
- 發射機和接收機之間的距離較長
RF656 系列:
- 高精度千分尺與遠心鏡頭
RF656XY 系列:
- 高精度兩軸千分尺
規格:
1D光學千分尺RF65x規格
RF65x- | RF651-25 | RF651-50 | RF651-75 | RF651-100 | RF656-5 | RF656-10 | RF656-25 | RF656-50 | RF656-75 | RF656-100 | |||
測量范圍,毫米 | 25 | 50 | 75 | 100 | 1х5 | 3х10 | 5х25 | 7×50 | 9×75 | 10×100 | |||
對象的最小尺寸,mm | 0,5 | 1 | 1,5 | 2 | 0,05(0,1) | 0,1(0,2) | 0,25(0,5) | 0,5(1) | 0,75(1,5) | 1(2) | |||
準確性*,um | 5 | 10 | 15 | 20 | 0,3 | 0,5 | 一 | 2 | 3 | 5 | |||
測量頻率,赫茲 | 500 | 500 | 500 | 500 | 500 | 2000 | 2000 | 2000 | 2000 | 2000 | |||
光源 | 發光二極管 | ||||||||||||
激光安全等級 | 1 (IEC60825-1) | ||||||||||||
同步輸入 | 2.4–5伏(CMOS,TTL) | ||||||||||||
邏輯輸出 | 三路輸出,NPN:最大100mA;最大40 V | ||||||||||||
電源,V | 24 (9…36) | ||||||||||||
功耗,W | 1,5…2 | ||||||||||||
外殼材料 | 鋁金屬 | ||||||||||||
重量(不含電纜),克 | 600 | 2000 | 2600 | 4000 | 700 | 700 | 700 | 1600 | 3200 | 4500 | |||
輸出接口 | 數字的 | RS232(最大。921.6千位/秒)或RS485(最大值。921.6千位/秒)或以太網& (RS32或RS485) | |||||||||||
模擬的 |
*?當使用刀口來中斷光束,發射器和接收器之間的距離等于兩個測量范圍時,獲得的典型數據
1D光學千分尺RF65xy規格:
RF65xy | RF656xy-5 | RF656xy-10 | RF656xy-25 | RF656xy-50 | RF656xy-75 | RF656xy-100 | |||||||
測量范圍,毫米 | 1х5 | 3х10 | 5х25 | 7×50 | 9×75 | 10×100 | |||||||
對象的最小尺寸,mm | 0,05(0,1) | 0,1(0,2) | 0,25(0,5) | 0,5(1) | 0,75(1,5) | 1(2) | |||||||
準確性*,um | 0,3 | 0,5 | 一 | 2 | 3 | 5 | |||||||
測量頻率,赫茲 | 500 | 2000 | 2000 | 2000 | 2000 | 2000 | |||||||
光源 | 發光二極管 | ||||||||||||
激光安全等級 | 1 (IEC60825-1) | ||||||||||||
同步輸入 | 2.4–5伏(CMOS,TTL) | ||||||||||||
邏輯輸出 | 三路輸出,NPN:最大100mA;最大40 V | ||||||||||||
電源,V | 24 (9…36) | ||||||||||||
功耗,W | 1,5…2 | ||||||||||||
外殼材料 | 鋁金屬 | ||||||||||||
重量(不含電纜),克 | 1500 | 1300 | 2600 | 6900 | 10500 | 13500 | |||||||
輸出接口 | 數字的 | RS485(最大。921.6千位/秒)或以太網和RS485 4…20毫安(負載≤ 500歐姆)或0…10伏 | |||||||||||
模擬的 |
*?當使用刀口來中斷光束,發射器和接收器之間的距離等于兩個測量范圍時,獲得的典型數據
測量原理:
RF651 工作原理
該顯微測量儀的操作基于所謂的“陰影”原理。顯微測量儀由兩個模塊組成——發射器1和接收器2。LED 3的輻射通過透鏡4進行平行化。當物體5放置在平行光束區域時,形成的陰影圖像被CCD光電探測器陣列6掃描。處理器7根據陰影邊界(s)的位置計算物體的位置(大小)。
RF656 工作原理
該顯微測量儀的操作基于所謂的“陰影”原理。顯微測量儀由兩個模塊組成——發射器1和接收器2。紅色LED 3的輻射通過透鏡4進行平行化。當物體5放置在平行光束區域時,由遠心透鏡6形成的陰影圖像被CCD光電探測器陣列7掃描。處理器8根據陰影邊界(s)的位置計算物體的位置(大小)。
應用:
- 大寬度/直徑
- 缺口
- 雙軸
- 物體/目標位移
- 物體識別
- 直徑和輪廓
1D光學千分尺RF651的訂購信息
RF 651-X/L-串行模擬輸入端口-сс-M-AK
符號 | 描述 |
X | 測量范圍,毫米 |
L | 固定在橫梁上的發射器和接收器外殼之間的距離,mm |
SERIAL | 串行接口類型:RS232 – 232或RS485 – 485或 (以太網和RS232)–232-ET或(以太網和RS485)–485-ET |
ANALOG* | 顯示存在4…20毫安(I)或0…10伏(U)的屬性 |
LOUT* | 顯示邏輯輸出存在的屬性 |
IN | 觸發輸入(同步輸入)存在 |
CC | с形連接器- CC |
М | 電纜長度,米 |
AK | 帶保護氣刀窗口千分尺 |
*僅可訂購邏輯輸出或模擬輸出的修改。
示例:RF 651-25/50-232-I-IN-сC-3–測量范圍–25mm,發射器和接收器之間的距離–50mm,RS232串行端口,4…20mA模擬輸出,可提供觸發輸入,電纜連接器,3 m電纜長度。
1D光學千分尺RF656的訂購信息
RF 656-X-SERIAL-ANALOG-LOUT-IN-сс-M-AK
符號 | 描述 |
X | 測量范圍,毫米 |
L | 發射器和接收器之間的距離,mm |
SERIAL | 串行接口類型:RS232 – 232或RS485 – 485 或(以太網和RS232)-232-ET,或(以太網和RS485)-485-ET |
SERIAL* | 顯示存在4…20毫安(I)或0…10伏(U)的屬性 |
ANALOG* | 顯示存在3個邏輯輸出的屬性 |
IN | 觸發輸入(同步輸入)存在 |
CC | с形連接器- CC |
М | 電纜長度,米 |
AK | 帶保護氣刀窗口千分尺 |
*僅可訂購邏輯輸出或模擬輸出的修改。
示例:RF 656-25/50-232-I-IN-сс-3–測量范圍–25mm,發射器和接收器之間的距離–50mm,RS232串行端口,4…20 mA模擬輸出,可提供觸發輸入,電纜連接器,3 m電纜長度。
1D光學千分尺RF656的訂購信息
RF 656 xy-X-SERIAL-ANALOG-LOUT-IN-AL-сс-M-AK
標志 | 描述 |
X | 測量范圍,毫米 |
SERIAL | 串行接口類型:RS485 – 485 或(以太網和RS485)–485-ET |
ANALOG* | 顯示存在4…20毫安(I)或0…10伏(U)的屬性 |
LOUT* | 顯示存在3個邏輯輸出的屬性 |
IN | 觸發輸入(同步輸入)存在 |
CC | с形連接器- CC |
М | 電纜長度,米 |
AK | 帶保護氣刀窗口千分尺 |
*僅可訂購邏輯輸出或模擬輸出的修改。
示例:RF 656 xy-25-485-I-IN-сс-3–測量范圍–25mm,RS485串行端口,4…20 mA模擬輸出,可提供觸發輸入,電纜連接器,3 m電纜長度。
RIFTEK,RF651,RF656,RF656XY,一維非接觸式光學顯微測量儀,用于測量金屬絲、棒材和其他圓柱體的直徑,間隙、邊緣位置和幾何物體的尺寸
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