RIFTEK,RF657.2D,RF657R.2D,RF656.2D,二維光學顯微測量儀,用于非接觸式的在線二維批量測量

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二維光學顯微測量儀旨在用于非接觸式的在線二維批量測量,包括線性尺寸、直徑、角度、螺紋參數、零件形狀、跳動等。
光學顯微測量儀采用“陰影”測量原理,其中平行的激光光束被傳輸到接收器。物體在光束路徑中投射的陰影邊緣通過接收單元內的探測器陣列精確測量。
該系列包括三種型號:
RF657.2D — 高精度、高速顯微測量儀,具有擴展測量范圍
RF657R.2D — 高精度、高速顯微測量儀,具有擴展測量范圍和圓形視場
RF656.2D — 經濟型系列

型號:

訂貨信息:

RF65х.2D-R-LP-LS-LI

標志描述
х6或7或7R
R光學傳感器的測量范圍。
RF656.2D-(FOV,高x寬,毫米):
8×10
25×30
30×40
40×50
RF657.2D-(FOV,高x寬,毫米):
25×35
40×50
60×80
RF657R.2D-(FOV,直徑,毫米):
· 45
· 70
· 100
LP控制器電源線的長度,m
LS光學傳感器的電源和同步電纜的長度,m。
LI以太網電纜的長度,m(最大值。100).

示例:RF 656.2d-40 x50-3-3-10–光學傳感器,測量范圍為40×50 mm,控制器電源線長度為3 m,光學傳感器電源線長度為3 m,以太網電纜長度為10 m。

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