德國 Sinterface 薄膜分析儀 TFA-1 薄膜材料熱分析儀
微觀泡沫和乳膠膜的形成、性能觀察和幾種物理化學(xué)參數(shù)的測定
其原理是基于眾所周知的薄膜液體-壓力平衡技術(shù)。在改進(jìn)的Scheludko-Exerowa電池中獲得微觀泡沫和乳液膜，特別是為在該儀器的緊湊結(jié)構(gòu)中實(shí)現(xiàn)最佳兼容性而設(shè)計(jì)的。用干涉法測量薄膜厚度。該儀器配有數(shù)碼相機(jī)，可同時(shí)觀察膠片和測量其厚度，兩者均由現(xiàn)代Windows軟件控制。
蔡司逆顯微鏡AXIO Observer.A1m配有數(shù)碼相機(jī)和 -單色光源
? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? -光傳感器模塊溫度控制測量單元有兩種修改，
允許：
i） 在恒定毛細(xì)管壓力下成膜
ii）在薄膜上施加外部壓力
-壓力控制單元
