納米振動分析儀 NA
用于微結構和 MEMS 的測振儀系統
- 對微物體進行高精度、非接觸式振動測量
- 易于調整和處理
- 廣泛的觸發選項
- X-Y 工作臺 50 mm x 50 mm,可根據要求提供其他選項
- 顯微鏡物鏡 10x、20x、50x
- 光斑直徑 2 μm – 10 μm,(取決于物鏡)
- 可以 OEM 使用測振儀單元
- Windows 和 Linux 下 OEM 軟件的開放接口
- 用于頻譜分析的 FFT 軟件
納米振動分析儀 NA?是?LSV 120 NG?系列光纖耦合激光測振儀與工程顯微鏡的組合。該系統非常適合測量微結構、MEMS 和懸臂的動態行為和靜態撓度。根據所使用的物鏡,可以實現小于 2 μm 的測量光斑尺寸。
可以使用 X-Y 平臺在大范圍內定位和掃描被測物體,并且可以通過相機進行觀察。顯微鏡物鏡是可互換的,并定義了可見光范圍和激光光斑直徑。激光干涉測振儀可實現的位移分辨率在皮米范圍內,可以分析高達 5 MHz 的振動頻率。
提供專門開發的軟件,用于采集和顯示測量數據。除了振動的頻率分析和觸發測量記錄外,該軟件還可以控制 X-Y 工作臺和外部頻率發生器。可以通過腳本自動執行更廣泛的測量序列。
可以使用 X-Y 平臺在大范圍內定位和掃描被測物體,并且可以通過相機進行觀察。顯微鏡物鏡是可互換的,并定義了可見光范圍和激光光斑直徑。激光干涉測振儀可實現的位移分辨率在皮米范圍內,可以分析高達 5 MHz 的振動頻率。
提供專門開發的軟件,用于采集和顯示測量數據。除了振動的頻率分析和觸發測量記錄外,該軟件還可以控制 X-Y 工作臺和外部頻率發生器。可以通過腳本自動執行更廣泛的測量序列。