德國SIOS NA納米振動分析儀 用于微結構和MEMS的測振儀系統

納米振動分析儀 NA

用于微結構和 MEMS 的測振儀系統

  • 對微物體進行高精度、非接觸式振動測量
  • 易于調整和處理
  • 廣泛的觸發選項
  • X-Y 工作臺 50 mm x 50 mm,可根據要求提供其他選項
  • 顯微鏡物鏡 10x、20x、50x
  • 光斑直徑 2 μm – 10 μm,(取決于物鏡)
  • 可以 OEM 使用測振儀單元
  • Windows 和 Linux 下 OEM 軟件的開放接口
  • 用于頻譜分析的 FFT 軟件
納米振動分析儀 NA?是?LSV 120 NG?系列光纖耦合激光測振儀與工程顯微鏡的組合。該系統非常適合測量微結構、MEMS 和懸臂的動態行為和靜態撓度。根據所使用的物鏡,可以實現小于 2 μm 的測量光斑尺寸。
可以使用 X-Y 平臺在大范圍內定位和掃描被測物體,并且可以通過相機進行觀察。顯微鏡物鏡是可互換的,并定義了可見光范圍和激光光斑直徑。激光干涉測振儀可實現的位移分辨率在皮米范圍內,可以分析高達 5 MHz 的振動頻率。
提供專門開發的軟件,用于采集和顯示測量數據。除了振動的頻率分析和觸發測量記錄外,該軟件還可以控制 X-Y 工作臺和外部頻率發生器。可以通過腳本自動執行更廣泛的測量序列。

技術數據

應用領域

  • 微元件的振動和位移測量,MEMS
  • 對任何粗糙度的表面進行非接觸式振動測量
  • 測定振動頻譜
  • 確定振動模式
  • 測定微物體和宏觀成分的固有頻率
  • 使用多個系統進行多坐標測量

適用

  • 質量管理
  • 發展
  • 科學 / 研究
  • OEM 應用

納米振動分析儀的設置


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