德國SIOS LM 20/50高線性度探頭 用于高精度觸覺厚度測量和校準

高線性度探頭 LM 20/50

光纖耦合,高度線性探頭,用于高精度觸覺厚度測量和校準

用于觸覺長度/厚度測量的激光干涉精密探頭

線性度 ≤ ±2 nm

測量力 固定 可調 0.5 …1.5 牛

在整個測量范圍內具有高線性度

在整個測量范圍內保持恒定的探頭測量力

Windows 和 Linux 下 OEM 軟件的開放接口

LM 系列激光干涉探頭是精密線性編碼器。使用這些探頭,可以在 20 或 50 mm 的測量范圍內進行觸覺測量,精度達到納米級。高線性長度測量儀的尺寸和 ? 8 mm h6 的夾緊軸直徑與傳統測量系統兼容。
集成的激光干涉儀將電機驅動測量主軸的測量運動轉換為干涉信號。該光學測量信號通過光纖傳輸到光電電源和評估單元,并作為長度值輸出。測針套筒和集成干涉儀相互調整,同時考慮到阿貝誤差和對準誤差的最小化。
穩定的氦氖激光器,其光通過光纖饋送到激光干涉儀,并校正環境對激光波長的影響,是高測量精度的基礎。操作和顯示要么通過單獨的顯示器,要么通過裝有適當軟件的 PC。

技術數據

應用領域

  • 高線性探針
  • 無阿貝誤差干涉長度測量
  • 在整個測量范圍內保持恒定的測量力
  • 適合作為內置測量系統
  • 電動驅動裝置
  • 適用于雙探頭版本中最高精度的厚度測量

適用

  • 質量管理
  • 發展
  • 厚度測量
  • 量塊檢查

接觸式探頭的測量原理


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