德國SIOS EPP高精度量塊校準系統 2024年12月4日 何梓楊19375106483（微信同號）EPP量塊校準系統 高精度量塊校準系統帶有兩個對齊探頭的測量裝置LM 20 激光干涉探頭可確保高測量精度和線性度校準 122 件裝量塊套件只需要 15 個標準量塊由于重新校準工作量少，節省成本由于用戶引導的測量序列，節省了測量時間可校準不尋常的標稱尺寸和材料在整個測量范圍內具有高線性度在整個測量范圍內保持恒定的探頭測量力校正試樣和常溫材料溫度傳感器（可選 4 個）Windows 下的 PC 軟件用于校準量塊的?EPP 量塊校準系統使用 LM 20 激光干涉探頭作為上部測量探頭。它的測量范圍為 20 mm，分辨率為 1 nm。Physikalisch-Technische Bundesanstalt Braunschweig 在量規塊校準期間確定該探頭的測量誤差小于 10 nm。這意味著根據 PTB 建議，對于 122 部分量塊組，所需的標準量塊數量可以減少到 15 個。通過校準程序，可以確定和校正量塊測試儀的線性誤差（不對中、探頭歪斜、溫度影響）。量塊測試站的舒適操作以及測量值的校正、評估和輸出均通過帶有“InfasGAUGE”軟件的 PC 進行（平行量塊校準）。技術數據應用領域校準 0.5 至 100 mm 范圍內矩形橫截面的量塊根據 ISO 3650 確定參數適用質量管理校準量塊校準 SIOS SIOS-Me?technik 三光束激光干涉儀 三軸激光干涉儀 位移角差分干涉儀 雙光束激光干涉儀 雙軸激光干涉儀 差分激光干涉儀 校準激光干涉儀 激光干涉儀 遠距離激光干涉儀
