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美國Sumix MAX-QS+干涉儀,光纖端面檢測儀

美國Sumix MAX-QS+干涉儀,光纖端面檢測儀

美國Sumix MAX-QS+干涉儀MAX-QS+?是一款白光相移干涉儀，用于檢測單光纖?ST、FC、SC、LC、MU、E2000™（PC 和 APC）、小尺寸多光纖?MT-RJ（PC 和 APC）、SMA?和特殊連接器。MAX-QS+ 具有便攜式設計、自動對焦、100 微米光纖高度掃描范圍和?1.1 微米分辨率。

該設備通過 USB 3.0 電纜和 12V 直流電源適配器連接到筆記本電腦或臺式計算機。

Sumix MAX-QS+ 配備行業領先的 MaxInspect™ 軟件，用于光纖連接器的干涉檢測。

Sumix MAX-QS+干涉儀特征：

1：高分辨率 2D 和 3D 表面輪廓

探索小至 1.1 μm 的表面細節。

2：自動對焦

將操作員的操作降至最低，只需單擊一下。

3：結合異常檢測和幾何測試

加快巡檢速度，提高工作效率。

4：快速測量

在 2 秒或更短的時間內測量單個光纖連接器。

5：顯微鏡模式

在測量之前目視檢查連接器端面。

6：行業領先的 MaxInspect™ 自動檢測軟件

測量曲率半徑、頂點偏移、纖維高度等。

7：超過 1000 微米的光纖高度掃描范圍

準確檢測具有較大不連續性和特殊連接器的套圈表面。

8：數據庫連接

將所有本地站點的測量數據存儲在一個地方，并輕松地將 Sumix 設備集成到您的制造系統中

MAX-QS+干涉測量系統包括：

  • MAX-QS+干涉儀
  • 用于設備驗證的光學平面標準
  • USB 3.0 數據線
  • AC適配器
  • 內六角扳手
  • 箱
  • MaxInspect™ 軟件許可證

Sumix MAX-QS+ 規格

系統

測量技術：非接觸式;邁克爾遜干涉測量法
鏡頭：NA = 0.25;平坦度誤差 < λ/50
照明 燈：綠色 LED （530 nm）
視場角：1.1 × 0.9 毫米
橫向分辨率：1.1微米
放大：500×（數碼變焦已關閉）
重點：自動對焦和手動對焦
最大圖像尺寸：2590 × 1940 像素
最適合連接器/套圈（PC 和 APC）：SC、FC、ST、LC、MU、E2000™、SMA、MT-RJ
顯微鏡模式：是的

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