Sumix MAX-Quantum 干涉儀，白光干涉儀， 可用于端面幾何檢測、異常檢測和導孔平行度和角度測量

Sumix MAX-Quantum 干涉儀

MAX-Quantum是一款高端自動干涉儀，用于單次掃描中檢測MTP/MPO, ST, FC, SC, LC, MU, E2000類型的單光纖和多光纖連接器以及MT, MT- RJ插針。

MAX-Quantum 干涉儀同時提供端面幾何檢測、異常檢測和導孔平行度和角度測量。MAX-Quantum 干涉儀具有高光學分辨率，自動對焦和視場角范圍廣，每排可測試16根光纖。

Sumix MAX-Quantum 干涉儀主要特征：
2D和3D表面輪廓分辨率高： 可以探測小至1.47 μm的表面細節。
自動對焦： 只需點擊一下，可以最大限度地減少操作員的動作。
結合異常檢測和幾何測試：快速檢查，提高工作效率。
快速測量：測量單光纖連接器1.4秒，測量多光纖連接器7秒。
與固定裝置兼容：克服MTP?/MPO測量中的電纜張力和套圈定位不確定性，并控制附加參數-導孔平行度和角度
MT16和MT32檢驗：掌握最新的市場技術。
數據庫連接：將所有本地站點的測量數據存儲在一個地方，并輕松將Sumix設備集成到您的制造系統中
業界領先的MaxInspect™自動檢測軟件：測量曲率半徑，頂點偏移，纖維高度，芯傾角等。
遵從行業標準：根據IEC, Telcordia或您自己的合格/不合格標準進行測試。

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Sumix MAX-Quantum 干涉儀技術參數：

測量技術: 非接觸式，邁克爾遜干涉儀
鏡頭: NA = 0.22
照明: 綠色LED (530nm)
視場: 6.0 × 4.4 mm
橫向分辨率: 1.47μm
放大倍數: 200x(數碼變焦關閉)
聚焦: 自動和手動
最大圖像尺寸: 4096 × 3000像素

可匹配連接器/連接管(PC和APC): SC, FC, ST, LC, MU, E2000™, MTP?/MPO, MT16/32, MT-RJ, MT, SMA
顯微鏡模式: 是的
測量模式: 相移和白光
掃描計算時間（測量時間可能因計算機性能和連接器端面形狀而異）：單光纖1.4秒; MT12/24 7秒; MT16為7.2秒; 異常檢測MT24為7.57秒; MT72為10.4秒。
測量范圍: ROC (mm): 1至flat; 頂點偏移量(μm): 0 ~ 2000; 光纖高度* (μm):大于1000; 角度測量-全范圍(度):0至28
可重復性C.F.:? ? ?Roc: 0.9% (mt12);0.04% (SC / APC)
光纖高度:0.8 nm (MT12);0.1 nm (SC/APC)
角度:0.005度(MT12);0.0002度(SC/APC)
頂點偏移:0.04μm (SC/APC)
可重復性C.R. :? ?Roc: 1.2% (mt12);0.05% (SC / APC)
光纖高度:1.1 nm (MT12);0.4 nm (SC/APC)
角度:0.01度(MT12);0.006度(SC/APC)
頂點偏移:1.0μm (SC/APC)

Polarity, Continuity and Endface Inspection Solution for MPO patch cords

Sumix MAX-Quantum 干涉儀系統需求：

Windows 10
Intel Core i7
4GB或更高內存
內置英特爾USB 3.0控制器
Microsoft Excel 2010或更高版本

MAX-Quantum干涉測量系統包含:
MAX-Quantum干涉儀
光學平面標準用于設備校準
USB 3.0電纜
AC 適配器
包裝箱
MaxInspect™軟件
夾具和其他配件需另外訂購

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