Sumix MAX-QM+白光干涉儀
MAX-QM+白光干涉儀是一款自動干涉儀，用于檢測MTP?/MPO, ST, FC, SC, LC, MU, E2000™，SMA類型以及MT, MT- rj插套的單光纖和多光纖連接器。
MAX-QM+白光干涉儀是一款具有高測量速度，便攜式設計，自動對焦和每行可測試12或16根光纖的大視場，使MAX-QM+白光干涉儀成為大批量生產線非常受歡迎的解決方案。
MAX-QM+白光干涉儀提供業界領先的MaxInspect 軟件，用于光纖連接器的干涉檢測。
Sumix MAX-QM+干涉儀技術參數：
測量技術: 非接觸式，邁克爾遜干涉原理
鏡頭: NA = 0.15，平面度誤差< λ/50
照明: 綠色LED (530nm)
視場: 5.6 × 4.2 mm
橫向分辨率: 2.2μm
放大倍數: 100x(數碼變焦關閉)
聚焦: 自動和手動
最大圖像尺寸: 2590 × 1940 像素
可匹配連接器/連接管(PC和APC): MTP?/MPO, MT, MT16/32, MT-RJ, SMA, SC, FC, ST, LC, MU, E2000™, MIL Spec termini
顯微鏡模式: 無
測量模式: 相移和白光
掃描計算時間（測量時間可能因計算機性能和連接器端面形狀而異）：
1 sec 用于單光纖,3 sec 用于MT12, 6.9 sec用于MT16, 4.9 sec 用于MT24, 5.7 sec 用于MT72.
測量范圍: ROC (mm): 1至flat; 頂點偏移量: 0 ~ 2000μm; 光纖高度:大于1000um; 角度測量-全范圍(度):0至28度
可重復性C.F.: ROC: 0.9 % (MT12); 0.04 % (SC/PC)
Fiber Height: 0.8 nm (MT12); 0.1 nm (SC/PC)
Angles: 0.005 deg (MT12); 0.0002 deg (SC/PC)
Apex Offset: 0.04 μm (SC/PC)
可重復性C.R. : ROC: 1.2 % (MT12); 0.05 % (SC/PC)
Fiber Height: 1.1 nm (MT12); 0.4 nm (SC/PC)
Angles: 0.01 deg (MT12); 0.006 deg (SC/PC)
Apex Offset: 1.1 μm (SC/PC)
MAX-QM+干涉測量系統包括:
MAX-QM+干涉儀
光學平面標準
USB 3.0電纜
AC適配器
包裝箱
MaxInspect 軟件
固定裝置和其他配件需單獨訂購。
[pdfjs-viewer url=”https%3A%2F%2Fydzhly.com%2Fsumix%2Fwp-content%2Fuploads%2Fsites%2F21%2F2024%2F04%2FSumix-%E5%B9%B2%E6%B6%89%E4%BB%AA%E8%B5%84%E6%96%99-CH.pdf” viewer_width=100% viewer_height=1360px fullscreen=true download=true print=true]
