WIZ-QS-110白光干涉儀
WIZ-QS-110白光干涉儀是一款自動干涉儀，用于檢測單光纖連接器、插套和裸光纖。WIZ-QS-110白光干涉儀被設計為用于大批量生產環境中光纖連接器干涉檢測的基本解決方案，其中速度，簡單性和精度最重要。白光測量算法和無需頻繁校準的精確對準夾具使其在同類產品的競爭中脫穎而出。WIZ-QS-110白光干涉儀是WIZ-QS+干涉儀的升級型號，保留了其所有優點。
WIZ-QS-110白光干涉儀主要特征：
適合批量生產：節省時間，易于插卡/連接器插入和夾具處理。
自動對焦：只需點擊一下，可最大限度地減少操作員的動作。
交互式2D和3D表面輪廓：旋轉，縮放，縮放圖像，以探索小至2.5 μm的表面細節。
快速測量：使用USB 3.0超高速連接，最快可在1.3秒內測量單光纖連接器和護套。
一鍵式操作：節省時間測試大量的連接器在快速模式。
業界領先的MaxInspect™自動檢測軟件：測量曲率半徑，頂點偏移，纖維高度，芯傾角等。
工廠精密對準夾具：在每次使用之前或在固定裝置之間更換時，不必校準固定裝置。
應用范圍廣：檢查單光纖連接器，護套，裸光纖，Arinc, MS端子，PC和APC。
遵從行業標準：根據IEC, Telcordia或您自己的合格/不合格標準進行測試。
光纖高度掃描范圍超過1000微米：精確檢查有較大不連續的卡套表面和特殊接頭。
數據庫連接：將所有本地站點的測量數據存儲在一個地方，并輕松將Sumix設備集成到您的制造系統中
WIZ-QS-110白光干涉儀技術參數：
視場: 1.2 x 0.9 mm
光學分辨率: 2.5μm
可匹配連接器/連接管: ST, FC, SC, MU, LC, E2000™, Arinc, MS termini – PC and APC, 裸光纖
測量模式: 相移和白光
掃描和計算速度：1.3秒
顯微鏡模式: 無
最大圖像尺寸: 2590 × 1940 像素
放大倍數: 460x
聚焦: 自動
測量范圍: ROC (mm): 1至flat; 頂點偏移量: 0 ~ 2000μm; 光纖高度:大于1000um; 角度測量-全范圍(度):0至28度
可重復性C.F.: 0.2 %
Fiber Height: 0.4 nm
Angles: 0.0002 deg
Apex Offset: 0.02 μm
可重復性C.R. : ROC: 0.2 %
Fiber Height: 0.5 nm
Angles: 0.007 deg
Apex Offset: 1.1 μm
Sumix WIZ-QS-110白光干涉儀標準配置：
WIZ-QS-110干涉儀
光學平面標準用于設備校準
USB 3.0電纜
AC 適配器
包裝箱
MaxInspect™軟件
夾具和其他配件需另外訂購
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