SUMIX干涉儀

美國Sumix Corporation WIZ-QS-110白光干涉儀

美國Sumix MAX-QM+工業自動干涉儀,光學輪廓儀

WIZ-QS-110 是一款自動干涉儀，用于檢測單光纖連接器、套圈和裸光纖。WIZ-QS-110 被設計為在大批量生產環境中對光纖連接器進行干涉檢測的基本解決方案，在這些環境中，速度、簡單性和精度是最重要的。白光測量算法和無需頻繁校準的精確對準燈具使其在同類產品中的競爭中脫穎而出。
注：WIZ-QS-110是WIZ-QS+干涉儀的升級型號，保留了其所有優點。

1：適合批量生產

通過輕松插入套圈/連接器和夾具處理來節省時間。

2：自動對焦

將操作員的操作降至最低，只需單擊一下。

3：交互式 2D 和 3D 表面輪廓

旋轉、縮放、縮放圖像以探索小至 2.5 μm 的表面細節。

4：快速測量

使用 USB 3.0 SuperSpeed 連接，最快可在 1.3 秒內測量單根光纖連接器和套圈。

5：一鍵操作

節省在快速模式下測試大量連接器的時間。

6：行業領先的 MaxInspect™ 自動檢測軟件

測量曲率半徑、頂點偏移、光纖高度、纖芯傾角等。

7：工廠精確對準的夾具

無需在每次使用前或在燈具之間更換時校準燈具。

8：應用范圍廣

檢查單光纖連接器、套圈、裸光纖、Arinc、MS 終端、PC 和 APC。

9：超過 1000 微米的光纖高度掃描范圍

準確檢測具有較大不連續性和特殊連接器的套圈表面。

WIZ-QS-110干涉測量系統包括：

  • WIZ-QS-110干涉儀
  • 用于設備驗證的光學平面標準
  • USB 3.0 數據線
  • AC適配器
  • 箱
  • MaxInspect™ 軟件許可證

Sumix WIZ-QS-110規格

視場角：1.2 x 0.9 毫米
光學分辨率：2.5微米
最適合連接器/套圈：ST、FC、SC、MU、LC、E2000™、Arinc、MS termini – PC 和 APC，裸光纖
測量模式：相移和白光
掃描和計算速度：1.3 秒*
*64 MHz，標準單光纖連接器。
顯微鏡模式：不是
最大圖像尺寸：2590 × 1940 像素
放大：460×
電源：外部 USB 3.0 電纜、12 V DC 電源適配器
重量：3.9公斤（8.6磅）
尺寸（高 × 寬 × 長）：150 × 120 × 90 毫米（5.9 × 4.72 × 3.5 英寸）
重點：自動對焦
對焦范圍：±1 毫米
測量范圍：ROC （mm）：1 到平坦
頂點偏移 （μm）：0 至 2000
纖維高度* （μm）：超過 1000**
角度測量 – 全范圍（度）：0 至 28
***?* 與掃描物體的最高點和最低點的差異。
**<默認提供 100 μm。 >100 μm – 用于特殊連接器/任務（需要軟件調整）。
*** 常規燈具 – 0， 8， 9度。定制夾具 – 0 -28 度。
重復性 C.F.*：
* 值是通過連續 30 次測量計算得出的，測量值之間沒有連接器交互（連接器固定），代表一個 sigma 值。
ROC：0.2 %
纖維高度：0.4 nm
角度：0.0002 度
頂點偏移：0.02 μm
重復性 C.R.*：
* 值是通過連續 30 次測量計算得出的，在測量之間移除和插入連接器（連接器重新加載），代表一個西格瑪值。
ROC：0.2 %
纖維高度：0.5 nm
角度：0.007 度
頂點偏移：1.1 μm
顯微鏡模式：不是

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