Sumix MAX-QS+白光干涉儀，用于單光纖，多光纖，SMA及特殊連接器的干涉檢測

MAX-QS+白光干涉儀

MAX-QS+是一款白光相移干涉儀，用于檢測單光纖ST, FC, SC, LC, MU, E2000™(PC和APC)，多光纖MT-RJ (PC和APC)， SMA和特殊連接器。MAX-QS+白光干涉儀具有便攜設(shè)計(jì)，自動對焦，100微米的掃描范圍，光纖高度和1.1微米的分辨率。

MAX-QS+白光干涉儀通過USB 3.0線纜和12V直流電源適配器連接筆記本電腦或臺式電腦。MAX-QS+白光干涉儀提供業(yè)界領(lǐng)先的MaxInspect 軟件，用于光纖連接器的干涉檢測。

MAX-QS+白光干涉儀主要特征：
高分辨率的2D和3D表面輪廓：可以探測到最小1.1 μm的表面細(xì)節(jié)。
自動對焦：只需點(diǎn)擊一下，可以最大限度地減少操作員的動作。
結(jié)合異常檢測和幾何測試：加快檢查，提高工作效率。
快速測量：在2秒或更短時間內(nèi)測量單個光纖連接器。
顯微鏡模式：測量前目測檢查連接器端面。
業(yè)界領(lǐng)先的MaxInspect 自動檢測軟件： 可測量曲率半徑，頂點(diǎn)偏移，光纖高度等。
光纖高度掃描范圍超過1000微米：精確檢查有較大不連續(xù)的卡套表面和特殊接頭。
數(shù)據(jù)庫連接：將所有本地站點(diǎn)的測量數(shù)據(jù)存儲在一個地方，并輕松將Sumix設(shè)備集成到您的制造系統(tǒng)中。
遵從行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)： 根據(jù)IEC, Telcordia或您自己的合格/不合格標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測試。

Third slide

Sumix MAX-QS+干涉儀技術(shù)參數(shù)：
測量技術(shù): 非接觸式，邁克爾遜干涉儀
鏡頭: NA = 0.25，平面度誤差< λ/50
照明: 綠色LED (530nm)
視場: 1.1 × 0.9 mm
橫向分辨率: 1.1μm
放大倍數(shù): 500x(數(shù)碼變焦關(guān)閉)
聚焦: 自動和手動
最大圖像尺寸: 2590 × 1940 像素
可匹配連接器/連接管(PC和APC): SC, FC, ST, LC, MU, E2000™, SMA, MT-RJ
顯微鏡模式: 是的
測量模式: 相移和白光
掃描計(jì)算時間（測量時間可能因計(jì)算機(jī)性能和連接器端面形狀而異）：2秒
測量范圍: ROC (mm): 1至flat; 頂點(diǎn)偏移量: 0 ~ 2000μm; 光纖高度:大于1000um; 角度測量-全范圍(度): 0至28度
可重復(fù)性C.F.: Roc: 0.1%; 光纖高度:0.1nm; 角度:0.0002度; 頂點(diǎn)偏移: 0.08μm
可重復(fù)性C.R. : Roc: 0.16%; 光纖高度:0.4nm; 角度:0.006度; 頂點(diǎn)偏移: 0.8μm

Kit

MAX-QS+干涉測量系統(tǒng)包括:

MAX-QS +干涉儀
光學(xué)平面標(biāo)準(zhǔn)
USB 3.0電纜
AC適配器
內(nèi)六角扳手
包裝箱
MaxInspect™軟件
固定裝置和其他配件需單獨(dú)訂購。

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