MAX-QS +干涉儀
用于單光纖連接器和帶有異常檢測的MT-RJ
MAX-QS +是一種白光相移干涉儀，用于檢查單光纖ST，FC，SC，LC，MU，E2000™（PC和APC），小型多光纖MT-RJ（PC和APC），SMA和特殊連接器。MAX-QS +具有便攜式設計，自動聚焦，100微米的掃描范圍，光纖高度和1.1微米的分辨率。
該設備通過USB 3.0電纜和12V DC電源適配器連接到便攜式計算機或臺式計算機。
MAX-QS +隨附行業領先的MaxInspect™軟件，用于光纖連接器的干涉測量。
Sumix干涉儀設計用于在拋光和組裝過程中檢查光纖插芯，跳線，尾纖和裸光纖。它們使您能夠檢查拋光質量，根據IEC，Telcordia或您自己的自定義標準測試連接器端面的幾何形狀，并生成報告以隨跳線一起提供。
Sumix干涉儀是現代可靠的光纖測試設備，具有USB 3.0連接技術，高分辨率和高對比度光學器件，符合人體工學的智能夾具，現代直觀的軟件。
功能：
軟件：
任務選擇：根據IEC / Telcordia行業標準，所有主要連接器類型的任務繁多。您可以選擇僅查看設備支持的活動任務。
即時取景：只需按Measure，即可在幾秒鐘內使連接器聚焦并測量。
表達結果：使用Express模式測試大量連接器。在同一屏幕上檢查測試結果，然后轉到下一個連接器。
總結報告：您可以打開“?摘要報告”面板以查看實時統計信息。
詳細報告：完整報告包含測量的幾何參數，包括。引導孔的平行度和角度。打印或導出報告以證明您的連接器。
異常報告：完整報告包含異常檢測結果
異常圖像：異常檢測與幾何測量同時進行，以消除測試后使用臺式顯微鏡的需要。
特征：
-
高分辨率2D和3D表面輪廓
探索小至1.1μm的表面細節。
-
自動對焦
一鍵式將操作員的動作減至最少。
-
組合異常檢測和幾何測試
加快檢查速度，提高工作效率。
-
快速測量
在2秒或更短的時間內測量單個光纖連接器。
-
顯微鏡模式
測量之前，目視檢查連接器端面。
-
MT16和MT32檢查
掌握最新的市場技術。
-
業界領先的MaxInspect™自動檢查軟件
測量曲率半徑，頂點偏移，纖維高度等。
-
纖維高度的100微米掃描范圍
準確檢查具有較大不連續性和特殊連接器的套圈表面。
-
數據庫連接
將來自所有本地站點的測量數據存儲在一個地方，并將Sumix設備輕松集成到您的制造系統中。
-
符合行業標準
根據IEC，Telcordia或您自己的通過/失敗標準進行測試。
