WIZ-QS-110白光干涉儀
WIZ-QS-110白光干涉儀是一款自動干涉儀，用于檢測單光纖連接器、插套和裸光纖。WIZ-QS-110白光干涉儀被設(shè)計為用于大批量生產(chǎn)環(huán)境中光纖連接器干涉檢測的基本解決方案，其中速度，簡單性和精度最重要。白光測量算法和無需頻繁校準(zhǔn)的精確對準(zhǔn)夾具使其在同類產(chǎn)品的競爭中脫穎而出。WIZ-QS-110白光干涉儀是WIZ-QS+干涉儀的升級型號，保留了其所有優(yōu)點。
WIZ-QS-110白光干涉儀主要特征：
適合批量生產(chǎn)：節(jié)省時間，易于插卡/連接器插入和夾具處理。
自動對焦：只需點擊一下，可最大限度地減少操作員的動作。
交互式2D和3D表面輪廓：旋轉(zhuǎn)，縮放，縮放圖像，以探索小至2.5 μm的表面細(xì)節(jié)。
快速測量：使用USB 3.0超高速連接，最快可在1.3秒內(nèi)測量單光纖連接器和護(hù)套。
一鍵式操作：節(jié)省時間測試大量的連接器在快速模式。
業(yè)界領(lǐng)先的MaxInspect™自動檢測軟件：測量曲率半徑，頂點偏移，纖維高度，芯傾角等。
工廠精密對準(zhǔn)夾具：在每次使用之前或在固定裝置之間更換時，不必校準(zhǔn)固定裝置。
應(yīng)用范圍廣：檢查單光纖連接器，護(hù)套，裸光纖，Arinc, MS端子，PC和APC。
遵從行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：根據(jù)IEC, Telcordia或您自己的合格/不合格標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測試。
光纖高度掃描范圍超過1000微米：精確檢查有較大不連續(xù)的卡套表面和特殊接頭。
數(shù)據(jù)庫連接：將所有本地站點的測量數(shù)據(jù)存儲在一個地方，并輕松將Sumix設(shè)備集成到您的制造系統(tǒng)中
WIZ-QS-110白光干涉儀技術(shù)參數(shù)：
視場: 1.2 x 0.9 mm
光學(xué)分辨率: 2.5μm
可匹配連接器/連接管: ST, FC, SC, MU, LC, E2000™, Arinc, MS termini – PC and APC, 裸光纖
測量模式: 相移和白光
掃描和計算速度：1.3秒
顯微鏡模式: 無
最大圖像尺寸: 2590 × 1940 像素
放大倍數(shù): 460x
聚焦: 自動
測量范圍: ROC (mm): 1至flat; 頂點偏移量: 0 ~ 2000μm; 光纖高度:大于1000um; 角度測量-全范圍(度):0至28度
可重復(fù)性C.F.: 0.2 %
Fiber Height: 0.4 nm
Angles: 0.0002 deg
Apex Offset: 0.02 μm
可重復(fù)性C.R. : ROC: 0.2 %
Fiber Height: 0.5 nm
Angles: 0.007 deg
Apex Offset: 1.1 μm
Sumix WIZ-QS-110白光干涉儀標(biāo)準(zhǔn)配置：
WIZ-QS-110干涉儀
光學(xué)平面標(biāo)準(zhǔn)用于設(shè)備校準(zhǔn)
USB 3.0電纜
AC 適配器
包裝箱
MaxInspect™軟件
夾具和其他配件需另外訂購
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