SRS,Stanford Research Systems,DS345,函數發生器

函數發生器

DS345 — 30 MHz 函數/任意波形發生器，頻率范圍 1 μHz 至 30.2 MHz
頻率分辨率 1 μHz
波形：正弦波、方波、梯形波、三角波及噪聲
相位連續掃頻
調幅（AM）、調頻（FM）、相位調制（PM）及突發模式
16,300 點任意波形
10 MHz 參考輸入
RS-232 和 GPIB

概述

DS345 函數發生器是一款功能全面的 30 MHz 合成函數發生器，采用創新的直接數字合成（DDS）架構。它可以生成許多標準波形，具有出色的頻率分辨率（1 μHz），并具有包括 AM、FM、突發、PM 和頻率掃頻在內的多種調制能力。此外，它還可以生成具有快速 40 Msample/s 更新率的任意波形。

功能和輸出

DS345 可以生成高達 30.2 MHz 的正弦波和方波，以及高達 100 kHz 的三角波和梯形波。所有功能的頻率分辨率為 1 μHz。除了標準波形，該設備還提供寬帶（10 MHz）白噪聲源。

函數輸出和 TTL SYNC 輸出均通過浮動的前面板 BNC 連接器提供。兩個輸出均具有 50 Ω 輸出阻抗，并可以浮動至相對于地球接地 ±40 V。所有函數輸出的幅度可調范圍為 10 mVpp 至 10 Vpp，具有三位數字分辨率，可顯示為 Vp、Vpp、Vrms 或 dBm。此外，還可以選擇標準 TTL 和 ECL 輸出電平。

后面板提供了額外的有用連接器。觸發輸入用于觸發任意波形、調制模式、掃頻和突發模式，而 TTL 觸發輸出用于允許外部設備與掃頻和突發模式同步。掃頻輸出生成與頻率掃頻同步的 0 V 到 10 V 梯形波。掃頻標記輸出允許在示波器上突出顯示頻率掃頻的指定部分。

10 MHz 后面板輸入允許 DS345 與外部時間基準同步。10 MHz 后面板輸出允許多個 DS345 相位鎖定。

調幅

DS345 函數發生器提供了多種調制選項。它包含一個內部調制發生器，可以調制除噪聲外的任何標準波形。調制波形可以是正弦波、方波、三角波、梯形波或任意波形。調制率從 1 mHz 到 10 kHz 可供選擇。

調制發生器可以提供調幅（AM）、調頻（FM）和相位調制（PM）。使用 AM 時，可以選擇 ±100 % 的調制深度，分辨率為 1 %。調制的負值對應于雙邊帶抑制載波（DSBSC）調制。FM 范圍可以選擇，分辨率為 1 μHz，PM 可以設置在 0° 到 7200° 之間，分辨率為 0.001°。

外部調幅

除了內部調制發生器，輸出波形還可以通過應用于后面板 AM 輸入的外部信號進行調幅。此輸入始終處于活動狀態，即使其他調制類型已開啟。

突發模式

可以生成除噪聲外的任何輸出函數的突發。通過突發模式，DS345 在接收到觸發信號后將輸出精確數量的完整波形周期。通過調整相位，可以控制突發在波形中的起始位置。在使用突發模式時，正弦波和方波的最大頻率為 1 MHz，而三角波和梯形波限制為 100 kHz。突發模式可與任意波形在任何頻率下使用。

頻率掃頻

DS345 函數發生器可以對其任何函數輸出（除噪聲外）進行頻率掃頻。可以使用線性或對數掃頻方式上升或下降頻率。與傳統函數發生器不同，掃頻過程中不會出現煩人的不連續性或頻帶切換偽影。DS345 的 DDS 架構天生允許其在整個頻率范圍內進行平滑、相位連續的掃頻。

頻率調制

可以指定兩個掃頻標記頻率。當掃頻通過任一標記頻率時，后面板 MARKER 輸出會生成 TTL 轉換，以允許外部設備同步。

任意波形

DS345 不僅僅是一個函數發生器。它還是一個功能全面的任意波形發生器。輸出波形具有 12 位垂直分辨率，能夠以高達 40 Msamples/s 的速率回放。

由于在鍵盤上編寫復雜的任意波形可能是一項繁瑣的任務，因此提供了免費 Arbitrary Waveform Composer (AWC) 軟件。AWC 是一個基于菜單的程序，允許您在屏幕上創建和編輯任意波形，存儲它們，并將其下載到 DS345。點擊這里獲取最新版本的 Windows AWC 軟件。

DS345 規格

頻率范圍與分辨率

頻率范圍 最大頻率 分辨率
正弦波 30.2 MHz 1 μHz
方波 30.2 MHz 1 μHz
梯形波 100 kHz 1 μHz
三角波 100 kHz 1 μHz
噪聲 10 MHz（高斯加權）
任意波形 10 MHz 40 MHz/N（采樣率）

輸出

源阻抗 50 Ω
接地 輸出可相對于地球接地浮動至 ±40 V（AC + DC）。

幅度

范圍 0.01 至 10 Vpp（50 Ω），20 Vpp（高阻抗）
分辨率 三位數字（DC 偏移：0 V）
正弦波準確度（0 V DC 偏移）
5 至 10 Vpp ±0.2 dB（1 μHz 至 20 MHz）
±0.5 dB（20 MHz 至 30.2 MHz）
0.01 至 5 Vpp ±0.4 dB（1 μHz 至 20 MHz）
±0.5 dB（20 MHz 至 30.2 MHz）
方波準確度
5 至 10 Vpp ±3 %（1 μHz 至 100 kHz）
±6 %（100 kHz 至 20 MHz）
±15 %（20 MHz 至 30.2 MHz）
0.01 至 5 Vpp ±5 %（1 μHz 至 100 kHz）
±8 %（100 kHz 至 20 MHz）
±18 %（20 MHz 至 30.2 MHz）
三角波、梯形波、任意波形準確度 ±3 %（>5 Vpp）
±5 %（<5 Vpp）

直流偏移

范圍 ±5 V（|VAC 峰值| + |VDC| < 5 V）
分辨率 三位數字（VAC = 0）
準確度 1.5 % 的設定值 + 0.2 mV（僅 DC）
±0.8 mV 至 ±80 mV，取決于 AC 和 DC 設置

正弦波

雜散 -45 dBc（非諧波，典型）
相位噪聲 -55 dBc（在載波中心 30 kHz 帶寬內，排除離散雜散信號，典型）
亞諧波 <-50 dBc
諧波失真 水平 頻率范圍
<-55 dBc DC 至 100 kHz
<-45 dBc 0.1 至 1 MHz
<-35 dBc 1 至 10 MHz
<-25 dBc 10 至 30 MHz

方波

上升/下降時間 <15 ns（10 至 90 %），在全輸出
不對稱 <1 % 的周期 + 4 ns
過沖 <5 % 的峰值到峰值幅度在全輸出

梯形波、三角波和任意波形

上升/下降時間 45 ns（10 MHz 貝塞爾濾波器）
線性度 ±0.5 % 的全尺度輸出
穩定時間 <1 μs 以穩定到最終值的 0.1 %，在全輸出

任意波形

采樣率 40 MHz/N，N = 1 至 234-1
內存長度 8 至 16,300 點
分辨率 12 位（0.025 % 全尺度）
相位
范圍 ±7199.999° 相對于任意起始相位
分辨率 0.001°

調幅

來源 內部（正弦波、方波、三角波或梯形波）或外部

調幅

來源 內部（正弦波、方波、三角波或梯形波）或外部
深度 0 至 100 % AM 或 DSBSC
速率 內部：0.001 Hz 至 10 kHz，外部：最大 15 kHz
失真 <-35 dB 在 1 kHz，80 % 深度
DSB 載波 <-35 dB 典型，在 1 kHz 調制率（DSBSC）
外部輸入 ±5 V 對 100 % 調制，100 kΩ 阻抗，15 kHz 帶寬

調頻

來源 內部（正弦波、方波、三角波、梯形波或任意波形）
速率 0.001 Hz 至 10 kHz
范圍 1 mHz 至 30.2 MHz（對于三角波、梯形波為 100 kHz）

相位調制

來源 內部（正弦波、方波、三角波、梯形波）
速率 0.001 Hz 至 10 kHz
范圍 ±7199.999°

頻率掃頻

類型 線性或對數，相位連續
波形 上升、下降、上升-下降、單次掃頻
時間 0.001 s 至 1000 s
范圍 1 mHz 至 30.2 MHz（對于三角波、梯形波為 100 kHz）
標記 可以在任何掃頻點設置兩個標記（TTL 輸出）
掃頻輸出 0 至 10 V 線性梯形波信號，與掃頻同步

突發調制

波形 除噪聲外的任何波形均可進行突發調制
頻率 正弦波、方波至 1 MHz
三角波、梯形波至 100 kHz
任意波形至 40 MHz 采樣率
計數 1 至 30,000 周期/突發（1 μs 至 500 s 突發時間限制）

觸發發生器

來源 單次、內部、外部、線路
速率（內部） 0.001 Hz 至 10 kHz（2 位數字分辨率）
外部觸發 正邊緣或負邊緣，TTL
輸出 TTL 電平

標準時間基準

準確度 ±5 ppm（20 °C 至 30 °C）
老化 5 ppm/年
輸入 10 MHz/N ± 2 ppm（N = 1 至 8），最小輸入水平 1 Vpp
輸出 10 MHz，>1 Vpp 正弦波，負載 50 Ω

可選時間基準

類型 石英 AT 切割振蕩器
穩定性 <0.01 ppm，20 °C 至 60 °C
老化 <0.001 ppm/天
Allan 方差（1 s） <5 × 10^-11

一般

接口 可選 RS-232（300 至 19.2 kbaud，DCE）和 GPIB，配有基于 DOS 的任意波形軟件（AWC）。所有儀器功能可通過接口控制。
非易失性存儲器 可保存和調用九組儀器設置
尺寸 8.5″ × 3.5″ × 13″（WHL）
重量 10 lbs.
功率 50 W，100/120/220/240 VAC，50/60 Hz
保修 一年零件和勞務保修，針對材料和工藝缺陷