美國(guó)TM electronics公司TME Solution- C Chamber Test腔體泄漏檢測(cè)

TME Solution- C Chamber Test腔體泄漏檢測(cè)

壓力或者真空衰減

非破壞性的密封檢測(cè)

多應(yīng)用程序

客戶定制或者標(biāo)準(zhǔn)腔體

參數(shù):

尺寸:1/2”W, 16”D, 10”H

電源:230V,50-60HZ

操作存儲(chǔ)環(huán)境:5-40℃,濕度<80%,非導(dǎo)電環(huán)境

控制:按鈕,觸摸屏,鍵盤鎖,開關(guān)

測(cè)試通道:最高4通道

測(cè)試模式:壓力或者真空衰減

存儲(chǔ):最高5000個(gè)測(cè)試結(jié)果

通訊接口:RS232

時(shí)間范圍:1-1000秒


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