美國TM electronics公司TME Solution- C Chamber Test腔體泄漏檢測

TME Solution- C Chamber Test腔體泄漏檢測

壓力或者真空衰減

非破壞性的密封檢測

多應用程序

客戶定制或者標準腔體

參數:

尺寸:1/2”W, 16”D, 10”H

電源:230V,50-60HZ

操作存儲環境:5-40℃,濕度<80%,非導電環境

控制:按鈕,觸摸屏,鍵盤鎖,開關

測試通道:最高4通道

測試模式:壓力或者真空衰減

存儲:最高5000個測試結果

通訊接口:RS232

時間范圍:1-1000秒


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