使用基于X射線輻射的測(cè)量設(shè)備提供了非接觸測(cè)定層厚度、密度、每個(gè)區(qū)域的重量或材料組成。在大多數(shù)情況下,可以使用低能量的X射線源。
通常情況下,X射線輻射僅限于測(cè)量路徑本身,因此設(shè)備輻射外難以檢測(cè)到。如果需要生產(chǎn)設(shè)備的維護(hù),測(cè)量將被關(guān)閉,然后不會(huì)出現(xiàn)輻射。材料性能不受輻射的影響或改變。
X射線測(cè)量裝置的典型應(yīng)用是:
- 散裝材料組成的測(cè)定
- 泥漿或懸浮液成分的測(cè)定
- 挖掘
- 可選性監(jiān)測(cè)
- 鉆孔探測(cè)
- 鉆孔巖屑分析儀
- 粒度分析
- 層厚測(cè)量
- 測(cè)量材料厚度(鋼帶、紙張等)
- 泥漿密度的測(cè)定
- 圖像分析(剝離、孔洞等)該圖顯示了涂層鋼帶的每區(qū)質(zhì)量
?在線元素分析:
TEXAS
◾散裝材料
◾X射線熒光
◾沒有采樣要求
FLORIDA
◾懸浮液和溶液
◾X射線熒光
◾沒有采樣要求
·圖像分析:
OSLO
對(duì)生產(chǎn)質(zhì)量控制
◾光學(xué)測(cè)量和評(píng)估
PANAMA
◾對(duì)散裝材料的粒徑分布帶分析
◾光學(xué)評(píng)價(jià)
?地質(zhì)與勘探:
IBERIA
◾鉆孔探測(cè)
◾元素分析
◾X射線熒光
INDIANA
鉆孔德比斯
◾分析
◾元素分析
◾X射線熒光
?采礦和準(zhǔn)備:
OREGON
◾可選性監(jiān)測(cè)
◾無化學(xué)品的需求
◾結(jié)合光學(xué)和輻射測(cè)量
◾適合礦典型的密度范圍(煤…鐵礦石)