WaferPro,浮區法硅片,P型,N型,高電阻率硅片,未摻雜硅片,氣體摻雜硅片

WaferPro,浮區法硅片,P型,N型,高電阻率硅片,未摻雜硅片,氣體摻雜硅片,WaferPro?提供優質的浮區法(FZ)硅片,以滿足日益增長的純度需求。浮區法硅片具有極低的氧和碳雜質,為關鍵應用提供了無與倫比的質量。

浮區法硅片

WaferPro?提供優質的浮區法(FZ)硅片,以滿足日益增長的純度需求。浮區法硅片具有極低的氧和碳雜質,為關鍵應用提供了無與倫比的質量。

這些硅片針對太陽能芯片、射頻電路、精密功率器件和太赫茲計算進行了優化,助力尖端創新。其超純單晶結構增強了電氣性能,可實現高精度的電流控制和復雜功能。

無論是通過增強靈敏度實現下一代傳感器,還是將功率設備推向新高度,我們的浮區法硅片都是追求硅性能極限的客戶的理想選擇。隨著新興技術對速度、效率和能力的要求不斷提高,依賴 WaferPro 的浮區法硅片,將愿景變為現實。

我們致力于滿足最嚴格的純度規格,提供浮區法硅片,推動高科技行業現在及未來的發展。

浮區法硅片的類型

  1. HIRES FZ – 高電阻率浮區法硅片
    高電阻率浮區法硅片是最常見的 FZ 硅片類型。它們由高純度 FZ 晶錠制成,電阻率大于 1,000 ohm-cm。這些硅片非常適合用于 RF MEMS 開關、發射器和接收器芯片以及微波和毫米波電路與器件。
  2. UNDOPED FZ – 未摻雜浮區法硅片
    未摻雜浮區法硅片是通過浮區法生長的硅基板,未有意引入摻雜原子。它們屬于本征型,電阻率大于 10,000 ohm-cm。
  3. NTD FZ – 中子摻雜浮區法硅片
    NTD FZ 硅片由未摻雜的高純度 FZ 晶錠制成,通過中子嬗變摻雜(NTD)輻照工藝進行摻雜。這會產生電阻率較低但范圍更窄的 N 型材料。這些硅片用于制造半導體功率器件的組件。
  4. GD FZ – 氣體摻雜浮區法硅片
    氣體摻雜 FZ 硅片由在熔體界面引入氣態摻雜劑的 FZ 晶錠制成。該工藝使晶錠沿長度方向具有良好的均勻性。

浮區法硅片的關鍵應用

以下是浮區法硅片的一些關鍵應用領域:

  1. 功率器件
    浮區法硅片用于制造高功率器件。
  2. 分立半導體
    浮區法硅片用于生產高功率分立晶體管以及射頻功率放大器。
  3. 計量標準
    用作材料特性測量(如熱導率)的校準標準。
  4. 輻射探測器
    高靈敏度的浮區法探測器用于醫學成像和核/粒子物理研究。
  5. MEMS 諧振器
    浮區法硅片的聲學特性對生產低損耗 MEMS 諧振器參考設備非常有價值。
  6. 光電子學
    LED 發射器和激光二極管等特殊電子產品受益于浮區法材料的高質量。
  7. 放大器
    浮區法硅片是制造超低噪聲中頻(IF)、射頻(RF)和微波半導體放大器的關鍵材料。
  8. 數據轉換器
    浮區法硅片支持精確的模數轉換和數模轉換集成電路(IC)的制造。
  9. 音頻組件
    用于前置放大器、均衡器等的高保真級模擬集成電路。

我們的能力

FZ 硅片具有極高的定制性,可根據您的需求靈活調整參數。

規格參數
直徑2” (50.8mm)、3” (76.2mm)、4” (100mm)、5” (125mm)、6” (150mm)、8” (200mm)、12” (300mm)
類型P型、N型、本征型
摻雜劑硼 (B)、磷 (Ph)、未摻雜
取向(1-0-0)、(1-1-1)、(1-1-0)、定制
電阻率 (Ω·cm)1 – 30,000+
厚度 (μm)20 – 2,000+
平邊/缺口無平邊、SEMI主平邊、Jeida平邊、2個SEMI平邊、缺口
表面處理SSP(單面拋光)、DSP(雙面拋光)

我們暢銷的的產品

為什么選擇我們?

WaferPro:浮區法硅片的領導者
作為高電阻率硅片的供應商,WaferPro 憑借數十年的專業經驗,提供無與倫比的高質量產品,值得您的信賴。我們的技術工程師精心優化了復雜的制造工藝,這種工藝幾乎無人能夠復制,既實現了超高純度的生長,又確保了結構的完整性。我們的浮區法硅片具有以下優勢:

  1. 卓越的均勻性:WaferPro 的浮區法硅片雜質和缺陷密度極低,在關鍵領域提供一致的性能。
  2. 無與倫比的定制化:我們根據您的應用需求,定制氧含量、電阻率、晶向、厚度和直徑。
  3. 可靠的保證:嚴格的質量控制確保硅片的完整性,提供長期穩定的功能。

當您需要為前沿需求優化且可靠的浮區法硅片時,請選擇專注于此類硅片制造超過 20 年的專家。WaferPro 擁有技術專長和卓越的制造能力,能夠滿足您所有的浮區法硅片需求。

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